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詳細(xì)摘要： JSM-IT500是JEOL InTouchScope系列的新機(jī)型。 從設(shè)定視野到生成報(bào)告，用于分析的軟件整合于一體，加快了作業(yè)速度！是一款無縫操作，使用更加方...

詳細(xì)摘要： JEOL新一代場發(fā)射掃描電子顯微鏡的旗艦機(jī)型。 它繼承了上一代廣獲好評的性能如的空間分辨率、高穩(wěn)定性、多種功能等的同時，操作性能極大簡單化。該設(shè)備不依賴操作者的...

詳細(xì)摘要： 的JSM-7610F的光學(xué)系統(tǒng)經(jīng)過改進(jìn)，實(shí)現(xiàn)了分辨率15kV 0.8nm、1kV 1.0nm的進(jìn)一步提升，以嶄新的JSM-7610FPlus形象亮相。采用半浸沒...

詳細(xì)摘要： JSM-7200F的電子光學(xué)系統(tǒng)應(yīng)用了日本電子旗艦機(jī)-JSM-7800F Prime采用的浸沒式肖特基電子槍技術(shù)，標(biāo)配了TTLS系統(tǒng)（Through-The-L...

詳細(xì)摘要： JMS-T100LP 液相色譜-飛行時間質(zhì)譜儀

詳細(xì)摘要： JMS-S3000采用日本電子獨(dú)自研發(fā)的SpiralTOF模式離子光學(xué)系統(tǒng)，它創(chuàng)新的技術(shù)在學(xué)術(shù)界已廣為人知，其超高的質(zhì)量分辨率和質(zhì)量準(zhǔn)確度，于傳統(tǒng)的裝置。

詳細(xì)摘要： JMS-MT3010HRGA采用的Multi-Turn技術(shù)，在只有20cm見方的質(zhì)量分析器內(nèi)，離子的最長飛行距離高達(dá)200ｍ。

詳細(xì)摘要： MS-800D UltraFOCUS? 是進(jìn)行超低濃度分析的，采用高分辨選擇離子監(jiān)測模式（HRSIM）適合二惡英及相關(guān)化合物如:二惡英、多氯聯(lián)苯(PCBs)、多...

詳細(xì)摘要： JMS-700高分辨質(zhì)譜儀全部采用電腦控制，離子源和各種參數(shù)具有自動調(diào)諧功能，不僅是常規(guī)測試，利用高分辨測試等所有模式都能容易地獲得高質(zhì)量的分析結(jié)果。

詳細(xì)摘要： 通過高頻感應(yīng)加熱產(chǎn)生大約1萬度的熱等離子體，經(jīng)過物理/化學(xué)反應(yīng)過程，能合成納米顆粒及厚膜(鍍膜)

詳細(xì)摘要： JXA-iSP100在保持高局部微量元素分析性能的同時，追求每個人都能簡單快速地使用好儀器。該儀器能更加有效地進(jìn)行觀察分析和操作，是更的一體化EPMA。

詳細(xì)摘要： JXA-iHP200F在保持高局部微量元素分析性能的同時，追求每個人都能簡單快速地使用好儀器。該儀器能更加有效地進(jìn)行觀察分析和操作，是更的一體化集成FE-EPM...

詳細(xì)摘要： 2003年日本電子推出了世界商業(yè)化場發(fā)射電子探針（FE-EPMA），此后被廣泛地應(yīng)用于金屬、材料、地質(zhì)等各個領(lǐng)域，并獲得了的贊譽(yù)。研發(fā)的第三代場發(fā)射電子探針JX...

詳細(xì)摘要： 可以安裝通用性強(qiáng)、使用方便的能譜儀X射線探測器，組合使用WDS和EDS，能提供無縫、舒適的分析環(huán)境。

詳細(xì)摘要： JSX-1000S型X射線熒光光譜儀采用觸控屏操作、提供更加簡便迅速的元素分析。具備常規(guī)定性、定量分析（FP法?檢量線法）、RoHS元素篩選功能等。 利用豐富的...

詳細(xì)摘要： 易受熱損傷的樣品，也能方便地制作出薄膜樣品和截面樣品。冷卻保持時間長，有效地抑制了熱損傷。

詳細(xì)摘要： 用于TEM 、STEM 、 SEM 、 EPMA 和 AUGER樣品制備的創(chuàng)新方法 離子切片儀制備薄膜樣品比傳統(tǒng)制備工具快速、簡單。低能量、低角度（0°到6°）...

詳細(xì)摘要： 軟X射線分析譜儀(SXES :Soft X-Ray Emission Spectrometer)通過組合新開發(fā)的衍射光柵和高靈敏度Ｘ射線CCD相機(jī)，實(shí)現(xiàn)了的能量...