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JXA-iHP200F 場發(fā)射電子探針顯微分析儀

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更新時間:2026-06-16 08:51:02瀏覽次數(shù):155

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產品簡介

JXA-iHP200F在保持高局部微量元素分析性能的同時,追求每個人都能簡單快速地使用好儀器。該儀器能更加有效地進行觀察分析和操作,是更的一體化集成FE-EPMA。

詳細介紹

檢測元素范圍

WDS: Be*1 / B to U,  

EDS: Be to U

檢測X-ray 范圍

波長范圍WDS: 0.087 to 9.3 nm

能量范圍EDS: 20 keV

譜儀數(shù)

WDS: 最多5個可選,  EDS: 1個

樣品尺寸

100 mm × 100 mm × 50 mm (H)

加速電壓

1 to 30 kV (0.1 kV steps)

探針電流范圍

1 pA to 3 μA

探針電流穩(wěn)定性

± 0.3% / h, ± 1.0% /12 h*2

二次電子像分辨率(觀察模式)

2.5 nm

二次電子像分辨率(分析模式下)

 

20 nm( 10 kV, 10 nA)

50 nm( 10 kV, 100 nA)

掃描放大倍率

×40 to 300,000 (W.D. 11 mm)

掃描圖像分辨率

Maxium 5,120 × 3,840


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