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FTIR 傅氏轉(zhuǎn)換紅外光譜分析系統(tǒng) 紅外光譜儀 詳細(xì)摘要： Bruker FTIR 傅氏轉(zhuǎn)換紅外光譜分析系統(tǒng)-利用紅外線光譜經(jīng)傅利葉轉(zhuǎn)換進(jìn)而分析雜質(zhì)濃度的光譜分析儀器。
產(chǎn)品型號(hào)： 所在地： 更新時(shí)間：2023-11-09 參考價(jià)： 面議 在線留言 -
NanoTest Vantage（微）納米材料力學(xué)性能綜合測(cè)試系統(tǒng) 詳細(xì)摘要： 英國(guó)MML（微）納米材料力學(xué)性能綜合測(cè)試系統(tǒng) NanoTest Vantage, 可以完成微納米尺度上材料力學(xué)性能測(cè)試和表征，用于產(chǎn)品的研究和開發(fā)?？梢杂糜诨炷?..
產(chǎn)品型號(hào)： 所在地： 更新時(shí)間：2021-07-23 參考價(jià)： 面議 在線留言 -
SmartLab 智能 X 射線多晶衍射儀 詳細(xì)摘要： 日本理學(xué) XRD 智能 X 射線多晶衍射儀 SmartLab，是當(dāng)今世界性能的多功能的 X 射線衍射儀，它采用了理學(xué)的 CBO 交叉光學(xué)系統(tǒng)、自動(dòng)識(shí)別所有光學(xué)組...
產(chǎn)品型號(hào)： 所在地： 更新時(shí)間：2021-07-23 參考價(jià)： 面議 在線留言 -
KLA納米壓痕儀 G200, G200X，iMicro 詳細(xì)摘要： Nano Indenter G200Nano Indenter G200系統(tǒng)專為各種材料的表征和開發(fā)過程中進(jìn)行納米級(jí)測(cè)量而設(shè)計(jì)。 該系統(tǒng)是一個(gè)*可升級(jí)，可擴(kuò)展且...
產(chǎn)品型號(hào)： 所在地： 更新時(shí)間：2021-07-23 參考價(jià)： 面議 在線留言 -
Helios 5 CX 掃描電鏡 詳細(xì)摘要： Thermo Scientific Helios 5 D ualBeam 產(chǎn)品系列憑借其的聚焦離子束和電子束性能、專有軟件、自動(dòng)化和易用性特征，重新定義了樣品制...
產(chǎn)品型號(hào)： 所在地： 更新時(shí)間：2021-07-23 參考價(jià)： 面議 在線留言 -
Miniflex 600 X 射線衍射儀 詳細(xì)摘要： Rigaku日本理學(xué)臺(tái)式 XRDX 射線衍射儀 Miniflex 600，外型小巧方便，具有近于分析儀器的測(cè)試性能，可以廣泛應(yīng)用于各種材料結(jié)構(gòu)分析的各個(gè)領(lǐng)域，是...
產(chǎn)品型號(hào)： 所在地： 更新時(shí)間：2021-07-23 參考價(jià)： 面議 在線留言 -
Smartlab SE 智能多功能X射線衍射儀 詳細(xì)摘要： 日本Rigaku 智能多功能X射線衍射儀 Smartlab SE, 高自動(dòng)化、多功能衍射儀, 精于形，智于心,易用、智能的全功能X射線衍射儀
產(chǎn)品型號(hào)： 所在地： 更新時(shí)間：2021-07-23 參考價(jià)： 面議 在線留言 -
JSM-IT800SHL場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡 詳細(xì)摘要： JSM-IT800SHL 是日本電子株式會(huì)社（JEOL） 2020 年推出的場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡，它秉承 JEOL 熱場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡 JSM-7900F 的大束流，高...
產(chǎn)品型號(hào)： 所在地： 更新時(shí)間：2021-07-23 參考價(jià)： 面議 在線留言 -
Hysitron TI 980 納米壓痕儀 詳細(xì)摘要： BRUKERHysitron TI 980 TriboIndenter 加速納米力學(xué)研究進(jìn)入更高階段,同時(shí)具有的性能、靈活性、可信度、實(shí)用性和速度?；诤Ｋ紕?chuàng)幾...
產(chǎn)品型號(hào)： 所在地： 更新時(shí)間：2021-07-22 參考價(jià)： 面議 在線留言 -
ECHO-VS 超聲波掃描顯微鏡 詳細(xì)摘要： 美Sonix 超聲波掃描顯微鏡 ECHO-VS，是專為更高精度要求，更復(fù)雜元器件設(shè)計(jì)的新一代設(shè)備， 掃描分辨率小于1微米
產(chǎn)品型號(hào)： 所在地： 更新時(shí)間：2021-07-22 參考價(jià)： 面議 在線留言 -
ECHO Pro 全自動(dòng)超聲波掃描顯微鏡 詳細(xì)摘要： 美 Sonix 全自動(dòng)超聲波掃描顯微鏡ECHO Pro , 批量 Tray盤和框架直接掃瞄, 編程自動(dòng)判別缺陷, 高產(chǎn)量,無需人員重復(fù)設(shè)置, 自動(dòng)烘干.
產(chǎn)品型號(hào)： 所在地： 更新時(shí)間：2021-07-22 參考價(jià)： 面議 在線留言 -
ECHO LS超聲波掃描顯微鏡 詳細(xì)摘要： 美Sonix超聲波掃描顯微鏡 ECHO LS,可檢測(cè)最小 0.05 微米的缺陷，它是一款的檢測(cè) bump, 堆疊芯片(三維封裝)，復(fù)雜 flipchip 和傳統(tǒng)...
產(chǎn)品型號(hào)： 所在地： 更新時(shí)間：2021-07-22 參考價(jià)： 面議 在線留言 -
AutoWafer Pro 晶圓檢測(cè)設(shè)備 詳細(xì)摘要： 美SonixAutoWaferPro晶圓檢測(cè)設(shè)備，專為全自動(dòng)晶圓檢測(cè)設(shè)計(jì)的機(jī)型，使用于 200 和 300MM晶圓。
產(chǎn)品型號(hào)： 所在地： 更新時(shí)間：2021-07-22 參考價(jià)： 面議 在線留言 -
Contour X 白光干涉光學(xué)輪廓儀 詳細(xì)摘要： 布魯克Bruker白光干涉光學(xué)輪廓儀 Contour X, 滿足微納米表面測(cè)量需要
產(chǎn)品型號(hào)： 所在地： 更新時(shí)間：2021-07-22 參考價(jià)： 面議 在線留言 -
JSM-7610FPlus 冷場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡 詳細(xì)摘要： JSM-7610FPlus，用于納米科學(xué)的肖特基場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡， 是一款采用半浸沒式物鏡、擁有超高分辨率的場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡，能觀察微細(xì)結(jié)構(gòu)和進(jìn)行微區(qū)元...
產(chǎn)品型號(hào)： 所在地： 更新時(shí)間：2021-07-22 參考價(jià)： 面議 在線留言 -
ContourX-200 三維光學(xué)輪廓儀 詳細(xì)摘要： ContourX-200 三維光學(xué)輪廓儀，靈活的臺(tái)式表面形貌測(cè)量設(shè)備
產(chǎn)品型號(hào)： 所在地： 更新時(shí)間：2021-07-22 參考價(jià)： 面議 在線留言 -
WCT-120+Suns-Voc少子壽命測(cè)試儀 詳細(xì)摘要： sinton少子壽命測(cè)試儀WCT-120+Suns-Voc，硅片少子壽命測(cè)試系統(tǒng)，采用了*的測(cè)量和分析技術(shù)，包括準(zhǔn)穩(wěn)定態(tài)光電導(dǎo)(QSSPC)測(cè)量方法?？伸`敏地反...
產(chǎn)品型號(hào)： 所在地： 更新時(shí)間：2021-07-21 參考價(jià)： 面議 在線留言 -
JXA-iHP200F 場(chǎng)發(fā)射電子探針顯微分析儀 詳細(xì)摘要： JXA-iHP200F 場(chǎng)發(fā)射電子探針顯微分析儀,JXA-iHP200F在保持高局部微量元素分析性能的同時(shí)，追求每個(gè)人都能簡(jiǎn)單快速地使用好儀器。該儀器能更加有效...
產(chǎn)品型號(hào)： 所在地： 更新時(shí)間：2021-07-20 參考價(jià)： 面議 在線留言 -
EVO 10德國(guó)ZEISS高分辨電子掃描顯微鏡 詳細(xì)摘要： ZEISS 高分辨電子掃描顯微鏡-EVO 10,具備自動(dòng)化工作流程的高清晰掃描電鏡，提高樣品的成像分辨率，提供更多表面細(xì)節(jié)信息，EVO 電鏡廣泛應(yīng)用于材料和生命...
產(chǎn)品型號(hào)： 所在地： 更新時(shí)間：2021-07-20 參考價(jià)： 面議 在線留言 -
nano-FTIR納米傅里葉紅外光譜儀 詳細(xì)摘要： 德國(guó)neaspec 納米傅里葉紅外光譜儀nano-FTIR：具有10nm空間分辨率的納米級(jí)紅外光譜儀，散射型近場(chǎng)光學(xué)技術(shù)發(fā)展出來的nano-FTIR納米傅里葉紅...
產(chǎn)品型號(hào)： 所在地： 更新時(shí)間：2021-07-20 參考價(jià)： 面議 在線留言