ContourX-200光學(xué)輪廓儀融合了高級(jí)表征、可定制選項(xiàng)和易用性，可提供的快速、準(zhǔn)確和可重復(fù)的非接觸式三維表面計(jì)量方法。該設(shè)備作為可用于計(jì)量的小尺寸系統(tǒng)，配置了大視場(chǎng)的5百萬(wàn)像素?cái)z像頭和新型電動(dòng)XY載物臺(tái)，可提供高性能的的2D / 3D高分辨率測(cè)量功能。

ContourX-200還配有業(yè)界的操作和分析軟件Vision64®。的VisionXpress™提供了更易于使用的界面和簡(jiǎn)潔的功能，可訪問(wèn)多種預(yù)編程濾鏡和分析工具，用于精密加工的表面，薄膜，半導(dǎo)體，眼科，醫(yī)療設(shè)備，MEMS和摩擦學(xué)等領(lǐng)域的測(cè)量分析。

ContourX-200具有的Z軸分辨率和準(zhǔn)確性，提供了布魯克專(zhuān)有的白光干涉儀（WLI）的所有業(yè)界*的優(yōu)點(diǎn)，卻沒(méi)有傳統(tǒng)共聚焦顯微鏡等產(chǎn)品的局限。

性能表面計(jì)量

。與放大倍率無(wú)關(guān)的業(yè)界Z軸分辨率

。尺寸的標(biāo)準(zhǔn)視場(chǎng)

。穩(wěn)定集成防震設(shè)計(jì)

的測(cè)量與分析功能

。易于使用的界面，可快速準(zhǔn)確地獲得結(jié)果

。自動(dòng)化功能用于日常測(cè)量和分析

。泛的濾鏡和分析工具選項(xiàng)，用于粗糙度和關(guān)鍵尺寸測(cè)量分析

。滿(mǎn)足包括ISO 25178, ASME B46.1, ISO 4287等標(biāo)準(zhǔn)在內(nèi)的定制化分析報(bào)告

的計(jì)量設(shè)備