ContourX-200光學輪廓儀融合了高級表征、可定制選項和易用性，可提供的快速、準確和可重復的非接觸式三維表面計量方法。該設備作為可用于計量的小尺寸系統(tǒng)，配置了大視場的5百萬像素攝像頭和新型電動XY載物臺，可提供高性能的的2D / 3D高分辨率測量功能。

ContourX-200還配有業(yè)界的操作和分析軟件Vision64®。的VisionXpress™提供了更易于使用的界面和簡潔的功能，可訪問多種預編程濾鏡和分析工具，用于精密加工的表面，薄膜，半導體，眼科，醫(yī)療設備，MEMS和摩擦學等領域的測量分析。

ContourX-200具有的Z軸分辨率和準確性，提供了布魯克專有的白光干涉儀（WLI）的所有業(yè)界*的優(yōu)點，卻沒有傳統(tǒng)共聚焦顯微鏡等產品的局限。

性能表面計量

。與放大倍率無關的業(yè)界Z軸分辨率

。尺寸的標準視場

。穩(wěn)定集成防震設計

的測量與分析功能

。易于使用的界面，可快速準確地獲得結果

。自動化功能用于日常測量和分析

。泛的濾鏡和分析工具選項，用于粗糙度和關鍵尺寸測量分析

。滿足包括ISO 25178, ASME B46.1, ISO 4287等標準在內的定制化分析報告

的計量設備