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詳細摘要： MDPinline ingot 光伏測量儀器，多晶形貌少子壽命測量系統(tǒng)是為高產(chǎn)量生產(chǎn)用戶而設計的。對于一個面，以1毫米的分辨率，無接觸、無破壞地測量電阻率和少子...

詳細摘要： MDPinline 光伏測量儀器，一秒內(nèi)完成正片晶片掃描。MDPinline是為高速自動掃描硅晶片而設計的，它以每片不到一秒的時間記錄少子壽命的全部形貌。利用微...

詳細摘要： 臺式薄膜探針反射儀FTPadv，F(xiàn)TPadv是一種具有成本效益的臺式反射膜厚儀解決方案，它具有非?？焖俚暮穸葴y量。在100毫秒以內(nèi)進行測量，其精度低于0.3nm...

詳細摘要： 反射膜厚儀RM 1000和RM 2000，反射膜厚儀RM 1000/2000具有200nm-930nm的紫外-近紅外光譜范圍。光學布局為光吞吐量優(yōu)化，以便即使在...

詳細摘要： 激光橢偏儀SE 500adv，橢偏儀SE 500adv將激光橢偏儀和反射儀結合在一個系統(tǒng)中。這種組合允許零度反射法用于快速薄膜分析，并且允許透明膜以激光橢偏儀的...

詳細摘要： 激光橢偏儀 SE 400adv，激光橢偏儀SE 400adv測量透明薄膜的厚度和折射率指數(shù)，具有測量速度、亞埃級別的厚度精度和折射率測定的精度。多角度測量允許使...

詳細摘要： SpectraRay/4:光譜橢偏測量/分析軟件，SENDURO全自動光譜橢偏儀包括基于測量處方的僅在幾秒鐘內(nèi)即可完成的快速數(shù)據(jù)分析。橢圓儀的設計是為了便于操作...

詳細摘要： SENDURO 全自動光譜橢偏儀,包括基于測量處方的僅在幾秒鐘內(nèi)即可完成的快速數(shù)據(jù)分析。橢圓儀的設計是為了便于操作：放置樣品，自動樣品對準，自動測量和分析結果。...

詳細摘要： SENDIRA紅外光譜橢偏儀,振動光譜的特點是傅立葉紅外光譜儀FTIR。測量紅外分子振動模的吸收譜帶，分析長分子鏈的走向和薄膜的組成。紅外光譜橢偏儀適用于測量導...

詳細摘要： 德國 Sentech 低成本高效益的光譜橢偏儀SENpro,SENpro橢偏儀是橢偏儀應用的智能解決方案。它具有角度計，入射角度步進值5。操作簡單，快速測量和直...

詳細摘要： 德國Sentech SENresearch 4.0 用于光譜橢偏儀，在寬的光譜范圍從190nm（深紫外）到3,500 nm（近紅外）。每一臺SENresearc...

詳細摘要： Thermo Scientifific Nicolet iN10 傅里葉變換顯微紅外光譜儀,給您可靠答案的顯微紅外光譜儀

詳細摘要： Filmetrics 薄膜厚度測量系統(tǒng)F20，F(xiàn)30，F(xiàn)40，F(xiàn)50，F(xiàn)60，F(xiàn)3-XXT 系列

詳細摘要： 日本A&D粒子計數(shù)器（粒度計）SV-1A,*,計數(shù)值高達2,000,000個粒子/ft.

詳細摘要： 美國RTI 自動特性圖示儀MT Century Curve Tracer,RTI的自動曲線追蹤系統(tǒng),可以檢測達625引腳。 它有各種尺寸可供選擇，以滿足泛用戶的...

詳細摘要： Royce 全自動型 MP300 芯片拾取系統(tǒng)，非表面接觸拾取功能，適用于2-12英寸晶圓。

詳細摘要： Royce AP+ 全自動芯片分選系統(tǒng)，適用芯片尺寸: 托盤放置: 0.2 mm2 - 25 mm，載帶放置: 0.5 mm2 -17 mm2。

詳細摘要： Royce 650,620,610 萬用推拉力性能測試儀，主要用于測試半導體器件和PCB板上元器件各種機械性能測試。

詳細摘要： 美國 SONIX 超聲波掃描顯微鏡:ECHO-VS 超聲波掃描顯微鏡ECHO Pro全自動超聲波掃瞄顯微鏡,晶圓檢測設備 AutoWafe Pro,封裝檢測設備...

詳細摘要： 日本JEOL多用途電子束熔煉爐 BS-EBM，以電子束為熱源使用各種熔解用坩堝，對高融點活性金屬進行熔解/精煉、制備鑄錠的電子束熔煉爐。 適合研究開發(fā)及少量生產(chǎn)...