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KSI V-Octo 八探頭大型超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng) 詳細摘要: KSI V-Octo 八探頭大型超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng),該系統(tǒng)同時使用8只換能器,能限度的確??焖賵D像采集和高效能。掃描速度:2000 mm/s,掃描范圍:100...
產品型號: 所在地: 更新時間:2021-07-20 參考價: 面議 在線留言 -
KSI V-quattro四探頭超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng) 詳細摘要: KSI V-quattro四探頭超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng),多工系統(tǒng),四探頭系統(tǒng),同時使用4只換能器,掃描速度:2000 mm/s, 掃描范圍:1000mm700mm
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Nano型高分辨率表層缺陷超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng) 詳細摘要: KSI-Nano型高分辨率表層缺陷超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng),聲學顯微成像系統(tǒng)和光學顯微成像系統(tǒng)的結合.換能器頻率范圍:100MHz2000MHz頻率實現高分辨率,放...
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KSI i-Ingot型全自動晶錠分析檢測系統(tǒng) 詳細摘要: KSI- 凱斯安i-Ingot型全自動晶錠分析檢測系統(tǒng),適用于對晶錠的無損檢測,有了它,晶錠內部的裂縫或雜質就能得到快速檢測,晶錠的尺寸可達450mm,檢測時間...
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KSI i-Wafer晶圓缺陷檢測系統(tǒng) 詳細摘要: KSI i-Wafer晶圓缺陷檢測系統(tǒng),是一款儀器,操作人員可選擇接收/拒絕標準,手動或自動檢測晶圓。在KSI i-Wafer的探測下,晶圓中的孔隙、分層或者雜...
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AFMinSEM 針尖電子束光刻與掃描電子顯微鏡組合系統(tǒng) 詳細摘要: AFMinSEM 德國 Nano analytik(ParcanNano)針尖電子束光刻與掃描電子顯微鏡組合系統(tǒng),既可以在大氣環(huán)境下實現樣品快速表征,也可以集成...
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PlasmaPro 800 RIE反應離子刻蝕機 詳細摘要: 英國Oxford 反應離子刻蝕機PlasmaPro 800 RIE,是結構緊湊、且使用方便的直開式系統(tǒng),該系統(tǒng)為大批量晶圓和300mm晶圓上的反應離子蝕刻(RI...
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SPL針尖電子束光刻機 詳細摘要: SPL德國Nano analytik(ParcanNano)針尖電子束光刻機,基于掃描針尖低能電子場發(fā)射的原理、采用壓阻式微納米針尖和多維納米定位與測量技術、在...
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SII 單離子注入機 詳細摘要: SII 德國 Nano analytik(ParcanNano )納米級精準定位的單離子注入機,基于新型掃描針尖精準定位的離子注入系統(tǒng),實現有效控制注入半導體器...
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AFM 高速原子力顯微鏡 詳細摘要: AFM 德國 Nano analytik(ParcanNano)高速原子力顯微鏡,它使用主動式智能針尖,集傳感器、驅動器和可功能化的針尖于一身,實現自激發(fā)和自傳...
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美Sonix晶圓檢查機 AutoWafe Pro. 詳細摘要: 美國SONIX 晶圓檢測設備 AutoWafe Pro.,是專為全自動晶圓檢測設計的機型,主要應用在Bond wafer,MEMS 內部空洞、離層檢測,TSV量...
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金/碳鍍膜機 詳細摘要: 美國Denton Vacuum 金/碳鍍膜機,內置泵系統(tǒng),極短的沉積時間,一致的沉積參數,圖形界面彩色觸摸板.
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荷蘭TSST脈沖激光沉積/激光分子束外延系統(tǒng) 詳細摘要: 荷蘭TSST脈沖激光沉積/激光分子束外延系統(tǒng),在真空環(huán)境下利用脈沖激光對靶材表面進行轟擊,利用激光產生的局域熱量將靶材物質轟擊出來,再沉積在不同的襯底上,從而形...
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集成等離子刻蝕和沉積的多腔系統(tǒng) 詳細摘要: Sentech 集成等離子刻蝕和沉積的多腔系統(tǒng),SENTECH多腔系統(tǒng)包括等離子刻蝕和/或沉積腔體、傳送腔室、預真空室或片盒站。傳送腔室包括傳送機械手臂,可適用...
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ALD實時監(jiān)測儀 詳細摘要: 德國Sentech ALD實時監(jiān)測儀,SENTECH ALD實時監(jiān)測儀是一種新型的光學診斷工具,是心靈超高分辨率的單一ALD循環(huán)。在不破壞真空的條件下分析薄膜特...
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SE 800 PV 激光橢偏儀 詳細摘要: SE 800 PV 激光橢偏儀,SENTECH設計了SE 800 PV,用于表征由SiNx/SiO2、SiNx/SiNy或SiNx/Al2O3組成的多層鈍化膜和...
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SE 400adv PV 激光橢偏儀 詳細摘要: 激光橢偏儀SE 400adv PV.是化使用的標準儀器,用于測量PV單層防反射涂層的厚度和折射率指數。特別用于表征單晶和多晶硅太陽能電池上的SiNx 防反射單層...
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光伏測量儀器RT Inline 詳細摘要: 德國Sentech光伏測量儀器 RT Inline, RT Inline薄膜反射和透射的在線監(jiān)測系統(tǒng),反射率、透射率和膜厚的高速在線測量是RT Inline的設...
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光伏測量儀MDPspot 詳細摘要: 德國Sentech光伏測量儀MDPspot,靈活的自動掃描系統(tǒng),具有成本效益的臺式少子壽命測試儀MDPspot可用于表征晶片或面。它為少子壽命測量提供了一個測量...
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MDPmap光伏測量儀 詳細摘要: 離線工具MDPmap是專為半導體晶片或部分工藝過的晶片的多功能、非接觸和少子壽命測量而設計的。MDPmap能夠連續(xù)地改變激發(fā)脈沖寬度,從非常短的脈沖(100ns...
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