德國KSI-凱斯安i-Wafer型
全自動(dòng)晶圓超聲波缺陷檢測(cè)系統(tǒng)

i-Wafer系列是一款儀器，操作人員可選擇接收/拒絕標(biāo)準(zhǔn)，手動(dòng)或自動(dòng)檢測(cè)晶圓。在KSI i-Wafer的探測(cè)下，晶圓中的孔隙、分層或者雜質(zhì)都能被發(fā)現(xiàn)。尺寸在450mm的多種晶圓也能進(jìn)行檢測(cè)

新型KSI i-Wafer晶圓缺陷檢測(cè)系統(tǒng)的主要特點(diǎn)：
- 掃描速度達(dá)2000mm/s
- 新型換能器
- 高質(zhì)畫面
- 同時(shí)使用1只、2只、4只換能器提高效能
- 能發(fā)現(xiàn)只有幾微米的缺陷