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PHI nanoTOF II 飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀 詳細(xì)摘要： PHI nanoTOF II 飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀是一種表面敏感的技術(shù)，提供表面分子，元素及其同位素前幾個(gè)原子層的組成圖像。所有元素和同位素，包括氫氣都可以用...
產(chǎn)品型號(hào)： 所在地： 更新時(shí)間：2021-08-01 參考價(jià)： 面議 在線留言 -
布魯克 MultiMode 8 高分辨掃描探針顯微鏡 詳細(xì)摘要： 布魯克 MultiMode 8 高分辨掃描探針顯微鏡系統(tǒng)的性能源于其緊湊堅(jiān)固的機(jī)械設(shè)計(jì)與*的低噪音SPM控制電路。SPM系統(tǒng)性能的優(yōu)劣很大程度取決于樣品與探針之...
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PHI 700Xi 俄歇電子能譜儀掃描俄歇納米探針 詳細(xì)摘要： PHI 700Xi 俄歇電子能譜儀掃描俄歇納米探針提供高性能的俄歇（AES）頻譜分析，俄歇成像和濺射深度分析的復(fù)合材料包括：納米材料，催化劑，金屬和電子設(shè)備。維...
產(chǎn)品型號(hào)： 所在地： 更新時(shí)間：2021-08-01 參考價(jià)： 面議 在線留言 -
賽默飛 MICROLAB 350場(chǎng)發(fā)射俄歇電子譜儀 詳細(xì)摘要： 賽默飛 MICROLAB 350場(chǎng)發(fā)射俄歇電子譜儀是一款高性能的，具有高靈敏度和高能量分辨率掃描俄歇電子能譜儀（AES）。 SEM分辨率7納米和掃描俄歇映射（S...
產(chǎn)品型號(hào)： 所在地： 更新時(shí)間：2021-08-01 參考價(jià)： 面議 在線留言 -
PHI Quantera II X射線光電子能譜儀 詳細(xì)摘要： PHI Quantera II X射線光電子能譜儀是Ulvac-Phi公司以在業(yè)界獲得非常成績(jī)的Quantum 2000和Quantera SXM之上延申后所研...
產(chǎn)品型號(hào)： 所在地： 更新時(shí)間：2021-08-01 參考價(jià)： 面議 在線留言 -
賽默飛 EscaLab 250Xi X射線光電子能譜儀 詳細(xì)摘要： 賽默飛 EscaLab 250Xi X射線光電子能譜儀是一臺(tái)多功能高性能的表面分析儀器，它可以用于研究各種固體材料樣品表面（1-10nm厚度）的元素種類、化學(xué)價(jià)...
產(chǎn)品型號(hào)： 所在地： 更新時(shí)間：2021-08-01 參考價(jià)： 面議 在線留言 -
日本電子 JXA-8530F 電子探針顯微鏡分析儀 詳細(xì)摘要： 日本電子 JXA-8530F 電子探針顯微鏡分析儀可以安裝通用性強(qiáng)、使用方便的能譜儀X射線探測(cè)器，組合使用WDS和EDS，能提供無(wú)縫、舒適的分析環(huán)境。 日本電子...
產(chǎn)品型號(hào)： 所在地： 更新時(shí)間：2021-08-01 參考價(jià)： 面議 在線留言 -
布魯克 Dimension Edge 掃描探針顯微鏡 詳細(xì)摘要： 布魯克 Dimension Edge 掃描探針顯微鏡的設(shè)計(jì)系統(tǒng)能從上到下產(chǎn)生低漂移低偏離數(shù)據(jù)，可以在幾分鐘內(nèi)完成且達(dá)到可發(fā)表的數(shù)據(jù)標(biāo)準(zhǔn)，而不再需要幾小時(shí)，價(jià)格也...
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蔡司 SIGMA高分辨率場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡 詳細(xì)摘要： 蔡司 SIGMA高分辨率場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡采用成熟的GEMINI光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)，分辨率超過0.8nm，為您提供Z高分辨率和Z佳分析性能科研平臺(tái)。Sigma500...
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蔡司 Gemini SEM場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡 詳細(xì)摘要： 蔡司 Gemini SEM場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡二十多年來，基于日漸*的Gemini技術(shù)，GeminiSEM具有完整高效的檢測(cè)系統(tǒng)、*的分辨率以及簡(jiǎn)便的操作方式。...
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FEI Inspect系列 掃描電子顯微鏡 詳細(xì)摘要： FEI Inspect系列 掃描電子顯微鏡滿足傳統(tǒng)高分辨率樣品研究所需的一切，簡(jiǎn)單易用的 InspectTM 專為滿足研究各類材料以及表征材料結(jié)構(gòu)和成分的主流需...
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蔡司 Axio Vert.A1 倒置式材料金相顯微鏡 詳細(xì)摘要： 蔡司 Axio Vert.A1 倒置式材料金相顯微鏡是全新一代研究級(jí)倒置是全新一代研究級(jí)倒置材料顯微鏡Axio Vert.A1開創(chuàng)了研究級(jí)倒置式顯微鏡產(chǎn)品，*的...
產(chǎn)品型號(hào)： 所在地： 更新時(shí)間：2021-08-01 參考價(jià)： 面議 在線留言 -
FEI Nova Nano SEM 場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡 詳細(xì)摘要： FEI Nova Nano SEM 場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡該產(chǎn)品是世界上*款可以對(duì)有機(jī)材料、基板、多孔材料、塑料以及高聚物材料等有電荷積累的樣品和/或污染性樣品進(jìn)...
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FEI Titan ETEM G2 透射電子顯微鏡 詳細(xì)摘要： FEI Titan ETEM G2 透射電子顯微鏡是我們的環(huán)境 TEM 平臺(tái)，設(shè)計(jì)用來觀測(cè)功能性納米材料及其隨著時(shí)間的推移對(duì)氣體和溫度刺激的響應(yīng)。憑借*的差動(dòng)泵...
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布魯克 Dimension FastScan 掃描探針顯微鏡 詳細(xì)摘要： 布魯克 Dimension FastScan 掃描探針顯微鏡在不損失Dimensionamp;#174; Iconamp;#174;超高的分辨率和的儀器性能前提...
產(chǎn)品型號(hào)： 所在地： 更新時(shí)間：2021-08-01 參考價(jià)： 面議 在線留言 -
日本電子 JXA-8230 電子探針顯微鏡分析儀 詳細(xì)摘要： 日本電子 JXA-8230 電子探針顯微鏡分析儀可以安裝通用性強(qiáng)、使用方便的能譜儀X射線探測(cè)器，組合使用WDS和EDS，能提供無(wú)縫、舒適的分析環(huán)境。日本電子新開...
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PHI 5000 Versaprobe II X射線光電子能譜儀 詳細(xì)摘要： PHI 5000 Versaprobe II X射線光電子能譜儀是材料科學(xué)和發(fā)展的領(lǐng)域中Z廣泛使用的表面分析技術(shù)。其原理是利用X射線束（一般會(huì)使鋁陽(yáng)極或鎂陽(yáng)極）...
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