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PHI nanoTOF II 飛行時間二次離子質譜儀 詳細摘要： PHI nanoTOF II 飛行時間二次離子質譜儀是一種表面敏感的技術，提供表面分子，元素及其同位素前幾個原子層的組成圖像。所有元素和同位素，包括氫氣都可以用...
產(chǎn)品型號： 所在地： 更新時間：2021-08-01 參考價： 面議 在線留言
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上海禹重實業(yè)有限公司
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詳細摘要： PHI nanoTOF II 飛行時間二次離子質譜儀是一種表面敏感的技術，提供表面分子，元素及其同位素前幾個原子層的組成圖像。所有元素和同位素，包括氫氣都可以用...
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