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逸出氣體分析系統(tǒng) EGA - In-Situ 詳細(xì)摘要： 逸出氣體分析系統(tǒng) EGA - In-Situ
產(chǎn)品型號(hào)： 所在地：廣州市 更新時(shí)間：2026-06-17 參考價(jià)： 面議 在線留言 -
Prominence 模塊化HPLC 詳細(xì)摘要： 當(dāng)前，各行各業(yè)都廣泛使用HPLC系統(tǒng)。在新藥研制，食品安全檢測(cè)，環(huán)境標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)的過程中都需要高度可靠的分析數(shù)據(jù)和快速有效的分析流程。而且，在許多分析技術(shù)設(shè)備中都使...
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JEM-Z300FSC 場(chǎng)發(fā)射冷凍電子顯微鏡 詳細(xì)摘要： 場(chǎng)發(fā)射冷凍電子顯微鏡JEM-Z300FSC (CRYO ARM? 300)配備了冷場(chǎng)發(fā)射電子槍、柱體內(nèi)能量過濾器(Ω能量過濾器)、側(cè)插式液氮冷卻樣品臺(tái)和自動(dòng)樣品...
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JEM-Z200FSC 場(chǎng)發(fā)射冷凍電子顯微鏡 詳細(xì)摘要： 場(chǎng)發(fā)射冷凍電子顯微鏡 JEM-Z200FSC CRYO ARM 200標(biāo)配冷場(chǎng)發(fā)射電子槍、柱體內(nèi)能量過濾器（Ω能量過濾器）、液氮冷卻樣品臺(tái)和12位自動(dòng)樣品更換系...
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JEM-2100Plus 透射電子顯微鏡 詳細(xì)摘要： JEM-2100Plus電子顯微鏡，不僅擁有信譽(yù)的JEM-2100 的電子光學(xué)系統(tǒng)，還增加了的控制系統(tǒng)，大幅提高了可操作性。 多功能電子顯微鏡JEM-2100P...
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JEM-2100 時(shí)間分辨電子顯微鏡及相關(guān)附件 詳細(xì)摘要： JEOL IDES 產(chǎn)品：飛秒級(jí)時(shí)間分辨率電子顯微鏡及其相關(guān)附屬設(shè)備
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JEM-1400Flash 透射電子顯微鏡 詳細(xì)摘要： JEM-1400Flash配備了高靈敏度sCMOS相機(jī)、超廣視野的蒙太奇系統(tǒng)以及光學(xué)顯微鏡圖像的聯(lián)動(dòng)功能，是一款新型的高通量、高分辨率 的120kV透射電子顯微...
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JEM-1000 超高壓透射電子顯微鏡 詳細(xì)摘要： 由于超高壓透射電子顯微鏡的加速電壓很高電子波長(zhǎng)很短，即使增大物鏡極靴之間的間隙，也能獲得高分辨率的圖像。此外，電子束具有很強(qiáng)的穿透能力，即使厚樣品也能觀察到清晰...
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JEM-F200 場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡 詳細(xì)摘要： 以節(jié)能環(huán)保、減排低碳為理念開發(fā)的JEM-F200場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡，不僅提高了空間分辨率和分析性能，還采用了新的操作系統(tǒng)可滿足多種使用途徑，易用性強(qiáng)，外觀設(shè)計(jì)...
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JEM-ARM300F2 原子分辨率分析型電子顯微鏡 詳細(xì)摘要： JEM-ARM300F2是GRAND ARMTM的第二代產(chǎn)品，該設(shè)備在性能上有了進(jìn)一步的提高，無論采用怎樣的加速電壓都能獲得超高空間分辨率圖像和高靈敏度的元素分...
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JEM-ARM300F GRAND ARM 透射電子顯微鏡 詳細(xì)摘要： JEM-ARM300F實(shí)現(xiàn)了高掃描透射像(STEM-HAADF)分辨率，配備了JEOL自主研發(fā)的球差校正器，加速電壓可達(dá)300kV，是一款原子級(jí)分辨率電子顯微鏡...
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JEM-ARM200F NEOARM 原子級(jí)分辨率透射電子顯微鏡 詳細(xì)摘要： “NEOARM" 標(biāo)配了日本電子獨(dú)自開發(fā)的冷場(chǎng)發(fā)射電子槍（Cold-FEG）和全新的高階球差校正器（ASCOR）。無論是在200kV的高加速電壓還是在30kV的...
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JEM-ACE200F 高效分析型電子顯微鏡 詳細(xì)摘要： CRYO ARM? 300 II 是一款低溫冷凍透射電子顯微鏡，專門用于觀察如蛋白質(zhì)等對(duì)電子束敏感的樣品，可進(jìn)行單顆粒分析、斷層掃描和MicroED等實(shí)驗(yàn)。與上...
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JEM-3200FS 場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡 詳細(xì)摘要： JEM-3200FS場(chǎng)發(fā)射電子顯微鏡配備了加速電壓為300kV的場(chǎng)發(fā)射電子槍（FEG）和鏡筒內(nèi)置式Ω型能量過濾器，能為廣泛的研究領(lǐng)域提供各種全新的解決方案。
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JSM-IT200 InTouchScope™ 掃描電子顯微鏡 詳細(xì)摘要： JSM-IT200 InTouchScope™ 是一款更簡(jiǎn)潔、更易于使用且性價(jià)比高的掃描電子顯微鏡
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JSM-F100 熱場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡 詳細(xì)摘要： JSM-F100集成了備受推崇的In-lens Schottky Plus Gun和電子光學(xué)控制系統(tǒng)Neo Engine，一個(gè)新開發(fā)的操作GUI“SEM Cen...
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CRYO ARM™ 300 II (JEM-3300) 場(chǎng)發(fā)射冷凍透射電子顯微鏡 詳細(xì)摘要： CRYO ARM? 300 II (JEM-3300) 場(chǎng)發(fā)射冷凍透射電子顯微鏡CRYO ARM? 300 II 是一款低溫冷凍透射電子顯微鏡，專門用于觀察如蛋...
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JSM-IT800 熱場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡 詳細(xì)摘要： JSM-IT800具備高分辨觀察和高速元素面分析，能夠滿足客戶的各種需求。該裝置配備浸沒式肖特基場(chǎng)發(fā)射電子槍、新一代電子光學(xué)控制系統(tǒng)Neo Engine、一體化...
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JSM-IT700HR InTouchScope™ 熱場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡 詳細(xì)摘要： 日常使用的SEM，好用！ 該設(shè)備分辨率1nm、探針電流300nA（之前的15倍），可提供豐富的觀測(cè)和分析信息，用戶界面操作簡(jiǎn)單、設(shè)計(jì)緊湊、配備大樣品室。
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JSM-IT500HR 掃描電子顯微鏡 詳細(xì)摘要： JEOL InTouchScope?系列的新機(jī)型, 采用新開發(fā)的高亮度電子槍和透鏡系統(tǒng)，可以更迅速便捷地提供令人驚嘆的高分辨率圖像、高靈敏度和高空間分辨率；從設(shè)...
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