為的高校和科研機(jī)構(gòu)所使用的超高壓透射電子顯微鏡(加速電壓為1,000kV)。

三維觀察和原位觀察實(shí)驗(yàn)

由于超高壓透射電子顯微鏡的加速電壓很高電子波長(zhǎng)很短，即使增大物鏡極靴之間的間隙，也能獲得高分辨率的圖像。此外，電子束具有很強(qiáng)的穿透能力，即使厚樣品也能觀察到清晰的圖像，這是超高壓透射電子顯微鏡的。

一般的透射電子顯微鏡樣品由于極薄，失去了塊狀材料的性質(zhì)，有效利用超高壓透射電子顯微鏡能觀察厚樣品的特長(zhǎng)，能保持塊狀樣品原來(lái)的性質(zhì)進(jìn)行觀察，特別是充分利用增大物鏡極靴之間的間隙所獲得的空間，使氣體氛圍下的原位觀察和樣品大角度傾斜的三維觀察在小型試驗(yàn)室的顯微鏡內(nèi)得到了實(shí)現(xiàn)。

STEM圖像對(duì)于厚樣品的三維觀察非常有效，特別是對(duì)微米級(jí)厚樣品的三維觀察能發(fā)揮威力。具有這些功能的JEM-ARM1000在新材料的開發(fā)和生物醫(yī)學(xué)研究中是的裝置之一。

JEM-ARM1000被世界各國(guó)的研究所、大學(xué)等機(jī)構(gòu)用于生物醫(yī)學(xué)、材料開發(fā)等科學(xué)的研究。

典型規(guī)格*1

*1 : 如有特殊要求請(qǐng)另行咨詢。
*2 : 其它加速電壓, 請(qǐng)另行咨詢。
*3 : 該角度高度依賴于樣品架的物理尺寸. 請(qǐng)另行咨詢。
*4 : 如有特殊要求請(qǐng)另行咨詢