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XGT-7200 X射線分析顯微鏡 詳細(xì)摘要: XGT-7200 X射線分析顯微鏡
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XGT-5200 X射線分析顯微鏡 詳細(xì)摘要: XGT-5200 X射線分析顯微鏡
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霍爾效應(yīng)測(cè)量系統(tǒng)L79/HCS 詳細(xì)摘要: 霍爾效應(yīng)測(cè)量系統(tǒng)L79/HCS
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介電樹脂固化監(jiān)測(cè)儀 詳細(xì)摘要: 介電樹脂固化監(jiān)測(cè)儀
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IB-19520CCP 截面樣品制備裝置 詳細(xì)摘要: IB-19520CCP在加工過程中利用液氮冷卻,能減輕離子束對(duì)樣品造成的熱損傷。冷卻持續(xù)時(shí)間長(zhǎng)、液氮消耗少的構(gòu)造設(shè)計(jì)。在裝有液氮的情況下,也能將樣品快速冷卻、恢...
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Serial Block-face SEM 3View 詳細(xì)摘要: 肖特基場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡能長(zhǎng)時(shí)間穩(wěn)定地提供高電流下的微細(xì)探針,與View?2XP(Gatan公司制造)結(jié)合使用,能對(duì)樣品進(jìn)行自動(dòng)切割,自動(dòng)獲取圖像。通過對(duì)獲得...
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Chip-DSC 1 差示掃描量熱儀 詳細(xì)摘要: Chip-DSC 1 差示掃描量熱儀
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Chip DSC 100 差示掃描熱量熱儀 詳細(xì)摘要: Chip DSC 100 差示掃描熱量熱儀
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Chip DSC-10 集成加熱設(shè)計(jì) 詳細(xì)摘要: Chip DSC-10 集成加熱設(shè)計(jì)
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DSC PT1000 差示掃描量熱儀 詳細(xì)摘要: DSC PT1000 差示掃描量熱儀
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利特斯WL15A直讀光譜儀,CCD直讀光譜儀 詳細(xì)摘要: 利特斯WL15A直讀光譜儀,CCD直讀光譜儀
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WL8A高精度直讀光譜儀 詳細(xì)摘要: WL8A高精度直讀光譜儀
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WBM-II 全身表面α β污染監(jiān)測(cè)儀 詳細(xì)摘要: WBM-II 全身表面α β污染監(jiān)測(cè)儀
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