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日本Otsuka界達(dá)電位@2023主要配件推薦 詳細(xì)摘要： 簡(jiǎn)要描述： 適用于界面化學(xué)、無(wú)機(jī)物、半導(dǎo)體、高分子、生物、藥學(xué)、醫(yī)學(xué)域中，除了微粒子外，膜及平板狀樣品的表面科學(xué)的基礎(chǔ)研究、應(yīng)用研究。
產(chǎn)品型號(hào)： 所在地：深圳市 更新時(shí)間：2026-04-28 參考價(jià)： 面議 在線留言 -
日本Otsuka量子效率測(cè)量系統(tǒng)#2023新聞資訊已更新推薦 詳細(xì)摘要： 簡(jiǎn)要描述： 可瞬間測(cè)量量子效率（量子收率） 可去除再激勵(lì)熒光發(fā)光 采用了積分半球unit，實(shí)現(xiàn)了明亮的光學(xué)系 采用了低迷光多通道分光檢出器，大大減少了紫外區(qū)域的...
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功率器件動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)@索引2023檢測(cè)項(xiàng)目 詳細(xì)摘要： 簡(jiǎn)要描述： 業(yè)測(cè)試SiC及Si基IGBT、MOSFET動(dòng)態(tài)時(shí)間參數(shù)特性，測(cè)試范圍可達(dá)3500V 4000A
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Chroma Model3650 SoC測(cè)試系統(tǒng)@2023研發(fā)結(jié)果推薦 詳細(xì)摘要： 簡(jiǎn)要描述： Chroma 3650 SoC測(cè)試系統(tǒng)可在一個(gè)測(cè)試頭中，提供多512 個(gè)數(shù)位通道，并具備高產(chǎn)能的平行測(cè)試功能， 高可同時(shí)測(cè)試32 個(gè)待測(cè)晶片，以提升...
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Chroma Model3650 SoC測(cè)試系統(tǒng)@2023新聞動(dòng)態(tài)已更新 詳細(xì)摘要： 簡(jiǎn)要描述： Chroma 3650 SoC測(cè)試系統(tǒng)可在一個(gè)測(cè)試頭中，提供多512 個(gè)數(shù)位通道，并具備高產(chǎn)能的平行測(cè)試功能， 高可同時(shí)測(cè)試32 個(gè)待測(cè)晶片，以提升...
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無(wú)線測(cè)試儀IQxel80|華普通用 詳細(xì)摘要： 簡(jiǎn)要描述： IQxel? 聯(lián)機(jī)能力測(cè)試系統(tǒng)可提供涵蓋完整范圍的WLAN () 與藍(lán)牙() 設(shè)備的物理層測(cè)試。IQxel 設(shè)備嚴(yán)格的帶寬要求與錯(cuò)誤向量幅度(EVM...
產(chǎn)品型號(hào)： 所在地：深圳市 更新時(shí)間：2026-04-27 參考價(jià)： 面議 在線留言 -
半導(dǎo)體參數(shù)分析儀@2023動(dòng)態(tài)已更新《新品/推薦 》 詳細(xì)摘要： 簡(jiǎn)要描述： 使用 4200A-SCS參數(shù)分析儀（參數(shù)測(cè)試儀）加快各類(lèi)材料、半導(dǎo)體器件和工藝的開(kāi)發(fā)，完成制程控制、可靠性分析和故障分析。4200A-SCS是業(yè)內(nèi)性...
產(chǎn)品型號(hào)： 所在地：深圳市 更新時(shí)間：2026-04-26 參考價(jià)： 面議 在線留言 -
固體激光器的激光多普勒測(cè)速儀LDV@2023動(dòng)態(tài)已更新推薦 詳細(xì)摘要： 簡(jiǎn)要描述： TSI的一維、二維或三維（1D,2D或3D）激光多普勒測(cè)速（LDV）系統(tǒng)，包含 新型的PowerSight固態(tài)激光器，讓您耳目一新。該款全新增強(qiáng)型系...
產(chǎn)品型號(hào)： 所在地：深圳市 更新時(shí)間：2026-04-26 參考價(jià)： 面議 在線留言