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日本Otsuka界達電位@2023主要配件推薦

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更新時間:2026-04-28 08:09:09瀏覽次數(shù):93

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產(chǎn)品簡介

簡要描述: 適用于界面化學、無機物、半導體、高分子、生物、藥學、醫(yī)學域中,除了微粒子外,膜及平板狀樣品的表面科學的基礎研究、應用研究。

詳細介紹

本公司2月21日11點22分報道:日本Otsuka界達電位@2023主要配件推薦 
/c74886/products/d.html

 產(chǎn)品信息

特點

使用了新型高感度APD,感度提升及縮短測量時間
通過測量自動溫度梯度空間,可分析出変性・相轉(zhuǎn)移溫度
可測量0~90℃大范圍內(nèi)的溫度
追加了大范圍的分子量測量及解析功能
懸濁類高濃度樣品的粒徑・ZETA電位的測量
實測cell內(nèi)的電氣滲透流,解析plot,提供高精度的ZETA 電位測量結(jié)果
高鹽濃度溶液的ZETA電位測量
小面積樣品的平板ZETA電位測量

用途

適用于界面化學、無機物、半導體、高分子、生物、藥學、醫(yī)學域中,除了微粒子外,膜及平板狀樣品的表面科學的基礎研究、應用研究。
新功能性材料域

燃料電池相關(碳納米軟管、富勒烯、功能性膜、觸媒、納米金屬)
生物納米相關(納米膠囊、人造分子、DDS、生物納米粒子)、納米氣泡等

陶瓷・色材工業(yè)域

陶瓷(二氧化硅・氧化鋁・氧化鈦等)
無膠體溶液的表面改質(zhì)・分散・凝集控制
顏料(炭黑・有機顏料)的分散・凝集控制
懸濁狀樣品
彩色膜
浮遊選礦物的捕集材吸著的研究


半導體域

查明附著在硅體晶圓的異物的結(jié)構(gòu)
研磨剤或添加剤和晶圓表面的相互作用的研究
CMP懸濁液

高分子・化學工業(yè)域

Emulsion(塗料・膠水)的分散・凝集控制、乳膠的表面改質(zhì)(醫(yī)藥 用・工業(yè) 用)
高分子電解質(zhì)(聚乙烯磺酸鹽・聚碳酸等)功能性的研究、功能性納米粒子
紙・紙漿的制紙工程控制及紙漿添加材料的研究

醫(yī)藥 品・食品工業(yè) 域

Emulsion(食品・香料・醫(yī)療・化妝品)的分散・凝集控制、蛋白質(zhì)的功能性
脂質(zhì)體・囊泡的分散・凝集控制、界面活性剤(膠粒)的功能性


原理

粒徑測量原理:動態(tài)光散射法(光子相關法)
溶液中的粒子會呈現(xiàn)出 依賴于粒徑的布朗運動。因此,當光照射到此粒子上而得到的散射光會出現(xiàn)浮動,小粒子浮動速度快,大粒子浮動速度慢。
通過光子相關法解析這種浮動,從而求出粒徑或粒度分布。


ZETA電位測量原理:電氣泳動光散射法(激光多普勒法)
對溶液中的粒子施加電場,便可觀測到粒子所帶電荷的電氣泳動。因此,可從此電氣泳動速度中求出ZETA電位・電氣泳動移動度。
電氣泳動光散射法,是用光照射做電氣泳動的粒子,根據(jù)所得到的散射光的多普勒轉(zhuǎn)換量求電氣泳動度。因此,也被稱作激光多普勒法。

電氣浸透流實測的優(yōu)點
所謂電氣浸透流指的是ZETA電位測量中,在cell內(nèi)引起的溶液的流動的現(xiàn)象。如果cell壁面帶電,溶液中的對離子會集中到cell壁面。
如果帶有電場,對離子會集中到反向符號的電側(cè)。為了其流動,在cell附近區(qū)域會出現(xiàn)逆流現(xiàn)象。
實測粒子表面的電氣泳動移動速度,通過解析電氣浸透流,求出正確的靜止面,當然此靜止面已包括了樣品的吸附或沈降等的cell污跡的影響,然后求出真正的ZETA電位・電氣泳動移動度。 (參考森・岡本公式)


森・岡本公式
考慮了電氣浸透流的cell內(nèi)的泳動速度的解析

Uobs(z)=AU0(z/b)2+⊿U0(z/b)+(1-A)U0+Up
z:距離cell中心位置的距離
Uobs(z):在cell中的位置z中的表面的移動度
A=1/[(2/3)-(0.420166/k)]
k=a/b:2a和2b是電氣泳動cell斷面的橫、縱的長度.但是、a>b
Up:粒子的真正的移動度
U0:在cell的上下壁面中的平均移動度
⊿U0:在cell的上下壁面中的移動度的差


電氣浸透流的多成分解析的應用
因ELSZ serie實測了cell內(nèi)的多個點的表面的電氣泳動移動度,在測量數(shù)據(jù)內(nèi)可確認出ZETA電位分布的在現(xiàn)性及判斷噪音峰值。


平板cell的應用
平板cell指的是在箱狀的石英cell上面,密集的放置平板樣品,使之成一體化的構(gòu)造。 根據(jù)cell的深度方向的各個別,實測monitor粒子表面的電氣泳動移動度
根據(jù)得到的的電氣浸透profile解析在固體界面中的電氣浸透流的速度,進而求出平板樣品表面的ZETA電位。

高濃度類樣品的ZETA電位測量原理
因受多重散射或吸收等的影響,用ELSZ series是很難測量光難以透過的濃厚樣品或有色樣品的。
現(xiàn)在,ELSZseries的標準cell可對應低濃度類到高濃度類的大范圍的樣品測量。并且,通過采用了FST法*的高濃度類cell,可測量出高濃度樣品的ZETA電位。


分子量測量原理:靜的光散射法(光子相關法)
靜的光散射法作為簡便的測量分子量的手法而被人們熟知。
測量原理指的是用光照射溶液中分子,根據(jù)所得的散射光的值求出分子量。即,利用了大分子所得散射光強,小分子所得散射光弱的現(xiàn)象進行測量。
實際上,濃度不同,所得的散射光強度也不同。因此,要實測數(shù)點的不同濃度的溶液散射強度,并根據(jù)以下公式,橫軸設為濃度,縱軸設為散射強度的倒數(shù), 
Kc/R(θ)為plot。這被稱作Debye plot。
濃度為零,外插切片(c=0)的倒數(shù),并求出分子量Mw,根據(jù)初期斜面求出第二維里系數(shù)A2。
分子量為大分子時,散射強度出現(xiàn)角度依存性,通過測量不同的散射角度(θ)的散射強度,可知出分子量的測量精度提高,及分子大范圍的指標的慣性半徑。
角度固定測量時,輸入推算的慣性半徑,并對角度依存測量進行相應的補正,便可提高分子量的測量精度。

第二維里系數(shù)定義
表示溶媒中分子間的斥力和引力的相互作用,溶媒分子相對應的親和性或結(jié)晶化的標準。
A2是正時,則是親和性較高的高質(zhì)溶媒,分子間的斥力強,更穩(wěn)定。
A2是負時,則是親和性較低的低質(zhì)溶媒,分子間的引力強,易凝集。
A2=0時,溶媒被稱為西他溶媒、或溫度為西他溫度,斥力和引力達到平衡狀態(tài),易結(jié)晶。


式樣

ELSZ-2000Z
測量原理 雷射都卜勒法(Laser Doppler)
光源 高功率、高穩(wěn)定性半導體鐳射
感光元件 高感度APD
樣品容器 標準樣品容器、微量(130μl~)可拋式樣品容器或高濃度樣品容器
溫度范圍 0 ~ 90℃ (具備梯度功能)
電源規(guī)格 100V ± 10% 250VA,50 / 60 Hz
尺寸 380(W) × 600(D) × 210(H)mm
重量 約22kg


測量范例

印表機墨水界達電位測量

使用平板樣品容器的測量范例

微量可拋式樣品容器的測量范例

隱形眼鏡平板電位解析

毛髮樣品界達電位解析


選配附件

pH滴定儀系統(tǒng)(ELSZ-PT)• 平板樣品容器
•界達電位用中、高濃度樣品容器•界達電位用低介電常數(shù)樣品容器
•界達電位用微量可拋式樣品容器

 

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