簡要描述： Chroma 3650 SoC測試系統(tǒng)可在一個測試頭中，提供多512 個數(shù)位通道，并具備高產(chǎn)能的平行測試功能， 高可同時測試32 個待測晶片，以提升量產(chǎn)效 能。在Chroma 3650中，每片單一的LPC板擁有 64個數(shù)位通道，并結(jié)合具備高效能基礎(chǔ)的Pin Function (PINF) IC，每一顆 PINF IC 具備4 個數(shù) 位通道的時序產(chǎn)生器，以提供50ps 以內(nèi)的精準 度。

本公司3月7日10點23分報道：Chroma Model3650 SoC測試系統(tǒng)@2023研發(fā)結(jié)果推薦
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SoC測試系統(tǒng)主要特色：

50/100MHz測試工作頻率
512個 I/O 通道(I/O Channel)
16M (32M Max.) Pattern 記憶體(Pattern Memory)
Per-Pin 彈性資源架構(gòu)
32 DUTS 平行測試功能
ADC/DAC 測試功能
硬體規(guī)則模式產(chǎn)生器(Algorithmic Pattern Generator)
BIST/DFT掃描鏈(Scan Chain)測試模組選項
好學(xué)易用的 Windows XP 作業(yè)環(huán)境
每片 VI45 類比單板可支援8~32通道
每片 PVI100 類比單板可支援2~8通道
彈性化的 MS C/C++ 程式語言
即時pattern編輯器，含F(xiàn)ail pin/address顯示
測試程式/測試pattern轉(zhuǎn)換軟體(J750, SC312)
多樣化測試分析工具 : Shmoo plot,Waveform display, Wafer Map, Pin Margin,Scope tool, Histogram tool等等

經(jīng)濟實惠的VLSI和消費性混合信號晶片產(chǎn)品的測試方案

平行測試功能 
Chroma 3650 SoC測試系統(tǒng)可在一個測試頭中，提供多512 個數(shù)位通道，并具備高產(chǎn)能的平行測試功能， 高可同時測試32 個待測晶片，以提升量產(chǎn)效 能。在Chroma 3650中，每片單一的LPC板擁有 64個數(shù)位通道，并結(jié)合具備高效能基礎(chǔ)的Pin Function (PINF) IC，每一顆 PINF IC 具備4 個數(shù) 位通道的時序產(chǎn)生器，以提供50ps 以內(nèi)的精準 度。

彈性化架構(gòu) 
雖然半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)是一個變化快速的產(chǎn)業(yè)，但其 資產(chǎn)設(shè)備應(yīng)建立在可符合長時間需求的設(shè)備之 上。Chroma3650在設(shè)計其架構(gòu)時，應(yīng)用 的規(guī)劃，具備AD/DA轉(zhuǎn)換器測試模組、ALPG記 憶體測試模組、高電壓PE輸出模組和多重掃描 鏈測試模組等等選配，以確保符合未來多年的 測試需求。

CRISP (軟體測試環(huán)境) 
架構(gòu)在Windows XP作業(yè)系統(tǒng)上的Chroma 3650的 軟體測試環(huán)境CRISP(Chroma Integrated Software Plat form)，是一個結(jié)合工程開發(fā)與量產(chǎn)需求 的軟體平臺。主要包含四個部份 : 執(zhí)行控制模 組、資料分析模組、程式除錯模組以及測試機 臺管理模組。透過親切的圖形人機介面的設(shè) 計，CRISP提供多樣化的開發(fā)與除錯工具，包含 :Shmoo plot、Waveform tool、Scope tool、Pin Margin、Pattern Editor與Plan Debugger 等軟體 模組，可滿足研發(fā)/測試工程師開發(fā)程式時的需 求 ; 此外，Histogram tool 可用于重復(fù)任一測試 參數(shù)，包含時序、電壓、電流等，以評估其測試 流程之穩(wěn)定度。

在量產(chǎn)工具的部份，透過特別為操作員所設(shè)計 的OCI (Operator Control Interface)量產(chǎn)平臺，生 產(chǎn)人員可輕易地控制每個測試階段。它提供產(chǎn)品 導(dǎo)向的圖形介面操作，用來控制 Chroma 3650 SoC測試系統(tǒng)、 晶圓針測機和送料機等裝置溝通。程式設(shè)計者 可先行在Production Setup Tool視窗之下設(shè)定OCI 的各項參數(shù)，以符合生產(chǎn)環(huán)境的需求。而操 作員所需進行的工作，只是選擇 程式設(shè)計者已規(guī)劃好的流 程，即可開始量產(chǎn)，大幅 降低生產(chǎn)線上的學(xué)習(xí)的時 間。

低價位的測試解決方案 
要配合現(xiàn)功能日趨復(fù)雜的IC晶片，需要具備功 能*而且多樣化的測試系統(tǒng)。為了達成具成本 效益的測試解決方案，必須藉由降低測試時間和 整體成本來達成，而非只是簡單地減少測試系統(tǒng) 的價格而已。Chroma 3650 SoC測試系統(tǒng)的設(shè)計即是可適用于 所有類型的應(yīng)用環(huán)境，例如 : 工程驗證、晶圓測 試和成品測試。周邊設(shè)備。 Chroma 3650支援多種裝置的驅(qū)動程式介面 (TTL& GPIB ) ，可進行與晶圓針測機和送料機， 包括 SEIKO-EPSON、SHIBASOKU、MULTI-TEST、 ASECO、DAYMARC、TEL、TSK、OPUS II等等裝 置之間的溝通。

應(yīng)用支援 
不管是新客戶或是現(xiàn)有客戶，Chroma 均提供廣 泛的應(yīng)用支援，以確保所有的設(shè)計皆能精準地符 合使用者的需求。不管使用者要快速提升生產(chǎn) 量、把握新興市場的機會、提高生產(chǎn)力、以創(chuàng)新 策略降低測試成本、或在尖峰負載情況下增加容 量，Chroma 位于的客服支援人員皆會竭盡 所能提供客戶即時解有效率的解決方案。

深圳華普通用科技有限公司，業(yè)提供實驗室分析測試儀器和自動化方案。公司分為儀器代理和自主研發(fā)兩大業(yè)務(wù)板塊。代理業(yè)務(wù)是和儀器公司合作，從事設(shè)備代理以及售后服務(wù)。自主研發(fā)業(yè)務(wù)是綜合運用自動化、機器人、計算機視覺以及人工智能等技術(shù)，為客戶提供標準化儀器和自動化解決方案，降低實驗室人員工作強度，提升工作效率，同時提高工作質(zhì)量。

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