詳細介紹
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使用 4200A-SCS參數分析儀(參數測試儀)加快各類材料、半導體器件和工藝的開發(fā),完成制程控制、可靠性分析和故障分析。4200A-SCS是業(yè)內性能先電學特性參數分析儀,提供同步電流電壓曲線測試 (I-V曲線測試)、電容-電壓曲線測試 (C-V曲線測試) 和超快脈沖 I-V曲線測量。
參數查看,快速清晰。
推進大膽發(fā)現從未如此容易。4200A-SCS 參數分析儀從設置到運行檢定測試的時間減少高達 50%,從而實現的測量和分析能力。此外,嵌入式測量業(yè)知識提供的測試指導,并讓您對終結果充滿信息。
特點
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用于 DC IV、CV 和脈沖 IV 測量類型的高測量硬件
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立即使用 Clarius 軟件中所含的數百種用戶可修改應用程序測試開始測試
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自動實時參數提取、數據繪圖、分析函數
準確的 C-V 表征
使用吉時利新的電容-電壓單元 (CVU) 4215-CVU 測量一位數飛法。通過將 1 V AC 電源集成到吉時利行業(yè)先的 CVU 架構中,4215-CVU 可在 1 kHz 至 10 MHz 的頻率下進行低噪聲電容測量。
特點
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同類產品中款能夠驅動1 V AC 電源電壓的 CV 表
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1 kHz 頻率,分辨率從1 kHz 到 10 MHz
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測量電容、電導和導納
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使用 4200A-CVIV 多路開關多可測量四個通道
測量、 切換、 重復。
4200A-CVIV 多通道切換模塊自動在 I-V 和 C-V 測量之間切換,無需重新布線或抬起探頭端部。 與競爭產品不同,四通道 4200A-CVIV 顯示器提供本地可視查看,可快速完成測試設置,并在出現意想不到的結果時輕松排除故障。
特點
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無需重新布線即可將 C-V 測量移動到任何設備終端
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用戶可配置低電流功能
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個性化輸出通道名稱
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查看實時測試狀態(tài)
穩(wěn)定的低電流測量,適用于 I-V 檢定
使用 4201-SMU 和 4211-SMU 模塊,您可以在高電容系統(tǒng)中實現穩(wěn)定的低電流測量。4200A-SCS 有四種型號的源測量單位 (SMU) 可供選擇,可通過定制滿足您所有的 I-V 測量需求。通過提供現場可安裝單元和可選的預放大器模塊,Keithley 可確保您獲得準確的低電流測量,而停機時間很少甚至沒有。
特點
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不必將儀器送回工廠即可增加 SMU
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進行 飛安測量
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多達 9 個 SMU 通道
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針對長電纜或大卡盤進行了優(yōu)化
帶分析探測器和低溫控制器的集成解決方案
4200A-SCS 參數分析儀支持許多手動和半自動晶片探測器和低溫控制器,包括 MPI、Cascade MicroTech、Lucas Labs/Signatone、MicroManipulator、Wentworth Laboratories、LakeShore Model 336 低溫控制器。
特點
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“點擊”測試定序
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“手動”探測器模式測試探測器功能
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假探測器模式無需移除命令即可實現調試
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