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弱吸收儀-共光路干涉吸收儀 測(cè)量顯微鏡/工具顯微鏡 詳細(xì)摘要： PCI弱吸收儀特點(diǎn)：精度高: 1 ppm；一次測(cè)量可以區(qū)分體、面吸收；掃描速度快（幾分鐘）；對(duì)樣品規(guī)格要求不高；操作方便、簡(jiǎn)單。
產(chǎn)品型號(hào)： 所在地：北京市 更新時(shí)間：2026-07-22 參考價(jià)： 面議 在線留言 -
雙折射顯微鏡 EXICOR-MICROIMAGER 測(cè)量顯微鏡/工具顯微鏡 詳細(xì)摘要： Exicor雙折射微型成像儀為學(xué)術(shù)界和工業(yè)界的研究人員提供了評(píng)估雙折射的能力。無論是生物材料還是工業(yè)材料。 微型成像儀具有0.7μm的數(shù)字分辨率，0.1nm的檢...
產(chǎn)品型號(hào)： 所在地：北京市 更新時(shí)間：2026-07-20 參考價(jià)： 面議 在線留言 -
Strokes 偏振計(jì) 測(cè)量顯微鏡/工具顯微鏡 詳細(xì)摘要： 偏振測(cè)量長(zhǎng)期以來一直是Hinds儀器的專業(yè)技術(shù)，在新的交鑰匙雙PEM研究中，STOKES偏振計(jì)系統(tǒng)是為測(cè)量光的斯托克斯參量提供高靈敏度的下一步，該系統(tǒng)在光學(xué)元件...
產(chǎn)品型號(hào)： 所在地：北京市 更新時(shí)間：2026-07-18 參考價(jià)： 面議 在線留言 -
穆勒矩陣測(cè)量系統(tǒng) 測(cè)量顯微鏡/工具顯微鏡 詳細(xì)摘要： 使用Hinds儀器公司PEM技術(shù)，該系統(tǒng)為一個(gè)完整的Mueller偏振計(jì)提供了高水平的靈敏度。關(guān)鍵詞：150XT,穆勒橢偏儀，Hinds. Hinds Inst...
產(chǎn)品型號(hào)： 所在地：北京市 更新時(shí)間：2026-07-16 參考價(jià)： 面議 在線留言 -
雙折射（應(yīng)力）測(cè)量系統(tǒng) EXICOR-SYSTERMS 測(cè)量顯微鏡/工具顯微鏡 詳細(xì)摘要： Exicor測(cè)量通過正在研究的光學(xué)樣品沿著光路積分的延遲。它旨在測(cè)量并顯示延遲軸的大小和方向。的設(shè)計(jì)（申請(qǐng)中）消除了光學(xué)系統(tǒng)中的移動(dòng)部件，并避免了在測(cè)量角度之間...
產(chǎn)品型號(hào)： 所在地：北京市 更新時(shí)間：2026-07-14 參考價(jià)： 面議 在線留言 -
各向異性測(cè)量系統(tǒng)2-MGEM橢圓計(jì) 測(cè)量顯微鏡/工具顯微鏡 詳細(xì)摘要： Hinds Instruments 公司的2-MGEM橢圓儀是一種用于測(cè)量米勒矩陣樣本的正常入射偏振反射顯微鏡。它可以用來評(píng)估RTISO 核燃料熱解碳層的光學(xué)各...
產(chǎn)品型號(hào)： 所在地：北京市 更新時(shí)間：2026-07-12 參考價(jià)： 面議 在線留言 -
雙折射（應(yīng)力）測(cè)量系統(tǒng) EXICOR-GEN 測(cè)量顯微鏡/工具顯微鏡 詳細(xì)摘要： LCD材料的超低階雙折射測(cè)量用于LCD的Exicor GEN系列在與光學(xué)材料制造商合作多年后，Hinds 儀器公司推出了Exicor 1500AT系統(tǒng)，用于測(cè)量...
產(chǎn)品型號(hào)： 所在地：北京市 更新時(shí)間：2026-07-10 參考價(jià)： 面議 在線留言 -
雙折射（應(yīng)力）測(cè)量系統(tǒng) EXICOR-PV-Si 測(cè)量顯微鏡/工具顯微鏡 詳細(xì)摘要： Hinds儀器的’Exicor? 雙折射測(cè)量系統(tǒng)PV-Si是工作平臺(tái)的擴(kuò)展。本系統(tǒng)采用高質(zhì)量的對(duì)稱光彈性調(diào)制器、1550 nm激光和Ge雪崩光電二極管探測(cè)器，實(shí)...
產(chǎn)品型號(hào)： 所在地：北京市 更新時(shí)間：2026-07-08 參考價(jià)： 面議 在線留言 -
雙折射（應(yīng)力）測(cè)量系統(tǒng) EXICOR-150AT 測(cè)量顯微鏡/工具顯微鏡 詳細(xì)摘要： Hinds 儀器的Exicor雙折射測(cè)量系統(tǒng)型號(hào)150AT是Exicor?雙折射測(cè)量系統(tǒng)系列產(chǎn)品的工作平臺(tái)。 該系統(tǒng)具有多功能性，在生產(chǎn)車間和研發(fā)實(shí)驗(yàn)室環(huán)境中均...
產(chǎn)品型號(hào)： 所在地：北京市 更新時(shí)間：2026-07-06 參考價(jià)： 面議 在線留言 -
雙折射（應(yīng)力）測(cè)量系統(tǒng)-EXICOR OIA 測(cè)量顯微鏡/工具顯微鏡 詳細(xì)摘要： Hinds Instruments 的ExicorOIA是透鏡、平行面光學(xué)、曲面光學(xué)在正常和斜入角度評(píng)估的主要雙折射測(cè)量系統(tǒng)。該系統(tǒng)是建立在Hinds lnsr...
產(chǎn)品型號(hào)： 所在地：北京市 更新時(shí)間：2026-07-04 參考價(jià)： 面議 在線留言 -
儀器箱 詳細(xì)摘要： 儀器箱
產(chǎn)品型號(hào)： 所在地：北京市 更新時(shí)間：2022-10-26 參考價(jià)： 面議 在線留言 -
美國(guó)Datary 光束質(zhì)量分析儀 測(cè)距儀 詳細(xì)摘要： WinCamD-IR-BB 是在MWIR 和FIR范圍內(nèi)激光成像的解決方案 。具有17 μm 像素, 波長(zhǎng)范圍2-16 μm, 集成快門, WinCamD-IR...
產(chǎn)品型號(hào)： 所在地：北京市 更新時(shí)間：2023-09-24 參考價(jià)： 面議 在線留言