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詳細(xì)摘要： 弱吸收的意義在高功率激光系統(tǒng)中，光學(xué)鏡片的膜層及體材料吸收較大的話會引起以下熱透鏡效應(yīng)進(jìn)而產(chǎn)生一系列問題： 1.如下圖所示的焦距發(fā)生變化 2.波前畸變 3.退偏...

詳細(xì)摘要： EKKOTM 圓二色性微片測量儀用于光學(xué)活性化合物的高通量篩選。EKKOTM 圓二色性微片測量儀使用垂直光路直接從標(biāo)準(zhǔn)孔板測量圓二色性。這樣就不需要將溶液轉(zhuǎn)移到...

詳細(xì)摘要： PCI弱吸收儀特點(diǎn)：精度高: 1 ppm；一次測量可以區(qū)分體、面吸收；掃描速度快（幾分鐘）；對樣品規(guī)格要求不高；操作方便、簡單。

詳細(xì)摘要： Exicor雙折射微型成像儀為學(xué)術(shù)界和工業(yè)界的研究人員提供了評估雙折射的能力。無論是生物材料還是工業(yè)材料。 微型成像儀具有0.7μm的數(shù)字分辨率，0.1nm的檢...

詳細(xì)摘要： 偏振測量長期以來一直是Hinds儀器的專業(yè)技術(shù)，在新的交鑰匙雙PEM研究中，STOKES偏振計(jì)系統(tǒng)是為測量光的斯托克斯參量提供高靈敏度的下一步，該系統(tǒng)在光學(xué)元件...

詳細(xì)摘要： 使用Hinds儀器公司PEM技術(shù)，該系統(tǒng)為一個(gè)完整的Mueller偏振計(jì)提供了高水平的靈敏度。關(guān)鍵詞：150XT,穆勒橢偏儀，Hinds. Hinds Inst...

詳細(xì)摘要： Exicor測量通過正在研究的光學(xué)樣品沿著光路積分的延遲。它旨在測量并顯示延遲軸的大小和方向。的設(shè)計(jì)（申請中）消除了光學(xué)系統(tǒng)中的移動部件，并避免了在測量角度之間...

詳細(xì)摘要： Hinds Instruments 公司的2-MGEM橢圓儀是一種用于測量米勒矩陣樣本的正常入射偏振反射顯微鏡。它可以用來評估RTISO 核燃料熱解碳層的光學(xué)各...

詳細(xì)摘要： LCD材料的超低階雙折射測量用于LCD的Exicor GEN系列在與光學(xué)材料制造商合作多年后，Hinds 儀器公司推出了Exicor 1500AT系統(tǒng)，用于測量...

詳細(xì)摘要： Hinds儀器的’Exicor? 雙折射測量系統(tǒng)PV-Si是工作平臺的擴(kuò)展。本系統(tǒng)采用高質(zhì)量的對稱光彈性調(diào)制器、1550 nm激光和Ge雪崩光電二極管探測器，實(shí)...

詳細(xì)摘要： Hinds 儀器的Exicor雙折射測量系統(tǒng)型號150AT是Exicor?雙折射測量系統(tǒng)系列產(chǎn)品的工作平臺。 該系統(tǒng)具有多功能性，在生產(chǎn)車間和研發(fā)實(shí)驗(yàn)室環(huán)境中均...

詳細(xì)摘要： Hinds Instruments 的ExicorOIA是透鏡、平行面光學(xué)、曲面光學(xué)在正常和斜入角度評估的主要雙折射測量系統(tǒng)。該系統(tǒng)是建立在Hinds lnsr...