應力儀 雙折射測量系統(tǒng)   應力測量   應力雙折射   應力測試  應力檢測   玻璃應力  birefringence  Hinds Instrument    Hinds儀器

雙折射（應力）測量系統(tǒng) EXICOR-SYSTERMS

概述

Exicor®雙折射測量技術于1999年推出，型號為150AT，為客戶提供技術*，具生產(chǎn)價值的測量雙折射的能力。Exicor系統(tǒng)的高靈敏度是Hinds Instruments的PEMLabs™技術的產(chǎn)品，該技術推出了超低雙折射光彈性調制器（PEM）。PEM的調制純度增強了Exicor屢獲殊榮的靈敏度，這是調制器的諧振特性的結果。 PEM的調制頻率為50 kHz，提供快速測量功能。雙檢測器光學系統(tǒng)的設計與PEM科學相結合，提供了一個重要特性：光學系統(tǒng)中沒有移動部件。 移動部件的缺失產(chǎn)生高機械可靠性以及測量的可重復性，并允許同時測量幅度和角度。Exicor測量通過正在研究的光學樣品沿著光路積分的延遲。它旨在測量并顯示延遲軸的大小和方向。的設計消除了光學系統(tǒng)中的移動部件，并避免了在測量角度之間切換的必要性。 氦氖激光束被偏振，然后被PEM調制。 調制后的光束通過樣品傳輸并分配一個分光鏡。 每束光束通過分析儀、光學濾光片和光電探測器的組合。 電子信號通過一個鎖定放大器處理，提供非常低的信號檢測。

由Hinds儀器公司開發(fā)的軟件算法將來自電子模塊的信號電平轉換為可以確定線性雙折射的參數(shù)。計算機從兩個輸入中選擇，允許從兩個信號通道進行連續(xù)測量。 分析數(shù)據(jù)，然后顯示延遲大小和軸角度并存儲在文件中。 當在自動映射模式下操作時，x-y平移階段將把樣本移動到下一個預定的測量位置。 結果以用戶的格式即時顯示。

EXICOR故事

多年來，交叉偏振器代表了雙折射測量技術的新水平，研究人員以及質量控制專業(yè)人員都可以使用。雖然這個1或2 nm的靈敏度水平有時足夠了，“像素”量化，計量水平重復性和統(tǒng)計數(shù)據(jù)分析能力缺失。 Hinds 儀器公司研發(fā)恩怨利用光彈性調制技術的二十多年經(jīng)驗，將這個相對快速（50 kHz），非機械，幾乎純正弦的“偏振切換器”應用于雙折射測量挑戰(zhàn)。與傳統(tǒng)測量方法相比，結果是測量靈敏度數(shù)量級的兩倍，有時甚至提高了三倍。這項技術已被廣泛發(fā)布和記錄。交鑰匙式Exicor系統(tǒng)使雙折射測量變得直觀和簡單。它的個軟件允許對雙折射數(shù)據(jù)進行多重視圖和統(tǒng)計分析。