應(yīng)力儀 雙折射測量系統(tǒng)   應(yīng)力測量   應(yīng)力雙折射   應(yīng)力測試  應(yīng)力檢測   玻璃應(yīng)力  birefringence  Hinds Instrument    Hinds儀器

雙折射（應(yīng)力）測量系統(tǒng) EXICOR-SYSTERMS

概述

Exicor®雙折射測量技術(shù)于1999年推出，型號為150AT，為客戶提供技術(shù)*，具生產(chǎn)價值的測量雙折射的能力。Exicor系統(tǒng)的高靈敏度是Hinds Instruments的PEMLabs™技術(shù)的產(chǎn)品，該技術(shù)推出了超低雙折射光彈性調(diào)制器（PEM）。PEM的調(diào)制純度增強了Exicor屢獲殊榮的靈敏度，這是調(diào)制器的諧振特性的結(jié)果。 PEM的調(diào)制頻率為50 kHz，提供快速測量功能。雙檢測器光學(xué)系統(tǒng)的設(shè)計與PEM科學(xué)相結(jié)合，提供了一個重要特性：光學(xué)系統(tǒng)中沒有移動部件。 移動部件的缺失產(chǎn)生高機械可靠性以及測量的可重復(fù)性，并允許同時測量幅度和角度。Exicor測量通過正在研究的光學(xué)樣品沿著光路積分的延遲。它旨在測量并顯示延遲軸的大小和方向。的設(shè)計消除了光學(xué)系統(tǒng)中的移動部件，并避免了在測量角度之間切換的必要性。 氦氖激光束被偏振，然后被PEM調(diào)制。 調(diào)制后的光束通過樣品傳輸并分配一個分光鏡。 每束光束通過分析儀、光學(xué)濾光片和光電探測器的組合。 電子信號通過一個鎖定放大器處理，提供非常低的信號檢測。

由Hinds儀器公司開發(fā)的軟件算法將來自電子模塊的信號電平轉(zhuǎn)換為可以確定線性雙折射的參數(shù)。計算機從兩個輸入中選擇，允許從兩個信號通道進行連續(xù)測量。 分析數(shù)據(jù)，然后顯示延遲大小和軸角度并存儲在文件中。 當(dāng)在自動映射模式下操作時，x-y平移階段將把樣本移動到下一個預(yù)定的測量位置。 結(jié)果以用戶的格式即時顯示。

EXICOR故事

多年來，交叉偏振器代表了雙折射測量技術(shù)的新水平，研究人員以及質(zhì)量控制專業(yè)人員都可以使用。雖然這個1或2 nm的靈敏度水平有時足夠了，“像素”量化，計量水平重復(fù)性和統(tǒng)計數(shù)據(jù)分析能力缺失。 Hinds 儀器公司研發(fā)恩怨利用光彈性調(diào)制技術(shù)的二十多年經(jīng)驗，將這個相對快速（50 kHz），非機械，幾乎純正弦的“偏振切換器”應(yīng)用于雙折射測量挑戰(zhàn)。與傳統(tǒng)測量方法相比，結(jié)果是測量靈敏度數(shù)量級的兩倍，有時甚至提高了三倍。這項技術(shù)已被廣泛發(fā)布和記錄。交鑰匙式Exicor系統(tǒng)使雙折射測量變得直觀和簡單。它的個軟件允許對雙折射數(shù)據(jù)進行多重視圖和統(tǒng)計分析。