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弱吸收-共光路干涉吸收儀
測量原理
右圖，Pump 光(泵浦光)為一束光束質(zhì)量較好的強激光聚焦到待測樣品上，光吸收的存在將在樣品內(nèi)部產(chǎn)生熱波，從而在樣品內(nèi)部形成周期性的梯度折射率分布，即熱透鏡效應，當一束Probe beam(探測光)經(jīng)過熱透鏡效應區(qū)域與pump光相交時，探測光在該焦點處波前發(fā)生畸變引起點衍射共路干涉，并產(chǎn)生周期性相位畸變信號。探測器通過探測其相位畸變情況并由鎖相放大器信號處理，最后由軟件計算顯示出待測樣品的吸收值。
PCI弱吸收儀特點：
- 精度高: 1 ppm；
- 一次測量可以區(qū)分體、面吸收；
- 測量方式：透射式、反射式（可選）
- 掃描速度快（幾分鐘）；
- 對樣品規(guī)格要求不高；
- 操作方便、簡單。
PCI弱吸收儀應用領域：
- 光學薄膜；
- 光學晶體材料；
- 光學鏡片。
PCI弱吸收儀性能
- 測量晶體（LBO、YVO4、KTP…）或光學產(chǎn)品（K9、BK7、UVFS…）內(nèi)部材料的弱吸收（體吸收）；
- 測量晶體或光學產(chǎn)品的表面吸收或薄膜吸收。
PCI 指標說明
| 項目 | 參數(shù)說明 |
| pump波長 | 1064nm |
| 測量精度 | 1064nm：面吸收:1ppm；體吸收:1ppm/cm |
| 樣品規(guī)格 | 方形、圓形均可 最小尺寸（mm）：3x3x3； 尺寸（mm）：50x50x50；150x150x50 可定制樣品尺寸 |
| 掃描分辨率 | 10ms單次，10um-4mm/s掃描 |
| 測試速度 | 常規(guī)2min/片（相對6mm厚度） |
| 區(qū)分體、面吸收 | 一次測量可以區(qū)分體、面吸收 |
| 軟件掃描功能 | AbMat-1D: 一維逐點掃描 AbMat-2D: 二維吸收立體掃描 |
| 掃描方式 | 長度/面/時間掃描 |
PCI 配置說明
| 1.光源 | Probe光源 632nmHe-Ne 激光器（） -功率：2mw -功率穩(wěn)定性：<> -發(fā)散角：1.3mrad -偏振比：500:1 Pump光源 #1064nm 光纖激光器 -平均功率： 20W（CW） -光束質(zhì)量M2：<> -功率穩(wěn)定性：＜2%(超過5 小時) -偏振：隨機 -制冷方式：風冷 -偏振光系統(tǒng) |
| 2.探測部分 | 含鎖相放大器、光斬波器、探測器、功率計、二維調(diào)整架等。 |
| 3.載物臺部分 | 含三維步進電機、樣品支架等 |
| 4.光學元件部分 | 反射鏡、透鏡、功率調(diào)節(jié)器等 |
| 5.軟件部分 | 實時數(shù)據(jù)采集，自動保存，數(shù)據(jù)分析等。 一維逐點掃描 二維吸收立體掃描 |
| 6.其它說明 | 建議設備安裝在超凈間環(huán)境； 建議配UPS電源。 |
測量結(jié)果及儀器實物圖
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