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產(chǎn)品簡介
硅光晶圓測試多通道數(shù)字源表PXIe插卡式產(chǎn)品參數(shù)
| 產(chǎn)地 | 國產(chǎn) | 產(chǎn)品新舊 | 全新 |
硅光晶圓測試多通道數(shù)字源表PXIe插卡式能夠同時輸出和測量電壓電流，蕞大支持10V，500mA直流/脈沖輸出，最小脈寬可達100μs。支持源表標準SCPI指令集，支持PXIeTrigger及前面板DIO同步觸發(fā)，提高了系統(tǒng)測試效率并降低成本
硅光晶圓測試多通道數(shù)字源表PXIe插卡式詳細信息
產(chǎn)品特點
·支持連續(xù)、sweep、序列等多種工作模式
·蕞大電流電壓分辨率低至10pA/100μV
·支持DI0外部同步觸發(fā)接口，支持2/4線測量
應用范圍
半導體晶圓、芯片特性測試
LD激光器、硅光器件特性測試
太陽能電池充放電、壽命測試
傳感器及材料測試
硅光晶圓測試多通道數(shù)字源表PXIe插卡式訂貨信息
選擇武漢普賽斯的理由
普賽斯加入PXISA聯(lián)盟，依托所掌握的核心技術推出PXIe模塊化測試平臺，PXIe模塊化測試平臺以其高帶寬、高集成度、產(chǎn)品復用性強等特點深受客戶歡迎，經(jīng)過長期的技術沉淀及軟硬件迭代升級，確保生產(chǎn)設計符合PXIe標準的模塊化儀器。普賽斯為客戶提供全套PXIe測試系統(tǒng)，包含系統(tǒng)卡/遠程卡、機箱和各種功能模塊板卡，并將持續(xù)研發(fā)投入，推出更多符合市場需求的功能模塊板卡，在此基礎上提供測試系統(tǒng)解決方案滿足客戶需求。
關鍵詞：傳感器
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