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產品簡介
BloomRay薄膜表面缺陷照明裝置產品參數(shù)
| 產地 | 進口 | 產品新舊 | 全新 |
日本株式會社Particle Labs BloomRay薄膜表面缺陷照明裝置，是一款專為光學薄膜、半導體晶圓 高精度光學元件設計的高對比度表面缺陷檢測照明系統(tǒng)。該裝置采用超指向性光學設計，通過精密透鏡陣列與準直光學系統(tǒng)，發(fā)射出極低發(fā)散角的平行光束，精準控制光線入射角度，將薄膜表面的微小劃痕、異物和微塵轉化為的光學對比度
BloomRay薄膜表面缺陷照明裝置詳細信息
日本株式會社Particle Labs BloomRay薄膜表面缺陷照明裝置 【產品概述】
BloomRay 超指向性薄膜檢查照明裝置由日本株式會社 Particle Labs 研發(fā)制造。該設備突破了傳統(tǒng)照明在大面積薄膜檢測中容易產生雜散光干擾的瓶頸，采用超指向性光場調控技術，通過內部精密的透鏡陣列與準直光學系統(tǒng)，發(fā)射出具有指向性、極低發(fā)散角的平行光束。這種定向光源能夠根據(jù)薄膜的物理特性（如折射率、透光率）進行特定的角度設定，缺陷邊緣的衍射和散射信號，配合高分辨率工業(yè)相機，實現(xiàn)納米級至微米級缺陷的高反差成像。
日本株式會社Particle Labs BloomRay薄膜表面缺陷照明裝置 【核心性能與優(yōu)勢】
- 超指向性光場調控技術：傳統(tǒng)照明在大面積薄膜檢測中容易產生雜散光干擾。BloomRay 裝置通過內部精密的透鏡陣列與準直光學系統(tǒng)，發(fā)射出具有指向性、極低發(fā)散角的平行光束。這種定向光源能夠根據(jù)薄膜的物理特性進行特定的角度設定，缺陷邊緣的衍射和散射信號
- 微塵與劃痕的高反差成像：利用全反射、漫反射與定向照明的結合，當光線以特定角度照射到透明薄膜表面時，平整區(qū)域會透光或反光，而極其微小的劃痕（Scratch）或附著物（Particle）會瞬間截斷光路。配合高分辨率工業(yè)相機，系統(tǒng)能實現(xiàn)納米級至微米級缺陷的"黑底亮斑"或"亮底黑斑"成像。
- 均勻大面積照明陣列：在卷對卷（R2R）或大面積玻璃基板的檢測中，邊緣光衰減是痛點。BloomRay 采用多通道均勻化光路設計，即使在大面積檢測視場下，也能保持中心與邊緣照度的一致性與均勻性，確保全幅面的量化評估標準統(tǒng)一。
- 低熱輻射與無損檢測：針對光刻膠、聚合物薄膜等對溫度極其敏感的材料，該照明裝置采用了低熱量、高穩(wěn)定性的光源，并配合高效的主動散熱設計，確保在長時間高亮度的檢測過程中，不會因熱膨脹導致薄膜發(fā)生物理形變。
【技術參數(shù)表】
表格
【典型應用領域】
顯示面板與光學薄膜：用于偏光片（Polarizer）、擴散膜（Diffuser）、增亮膜（BEF）以及柔性OLED蓋板玻璃的表面微塵、臟污及壓傷檢測。
半導體與精密光學元件：用于晶圓（Wafer）、光刻掩模版（Mask/Reticle）、濾光片表面的微小顆粒（Particle）和納米級劃痕（Scratch）的光學篩查。
新能源與功能性薄膜：檢測鋰電池隔膜、太陽能電池背板、ITO導電薄膜在涂布和制程中的針孔、氣泡、異物及涂覆不均等缺陷。
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