普賽斯儀表實驗平臺是以工程教育專業(yè)認(rèn)證為應(yīng)領(lǐng)參與高校專業(yè)建設(shè),以信息化應(yīng)領(lǐng)構(gòu)建學(xué)習(xí)者為中心的教育生態(tài),培養(yǎng)集成電路硬件測試人才。為學(xué)生提供豐富的教學(xué)資源以及貼近現(xiàn)實的產(chǎn)業(yè)環(huán)境,支撐集成電路相關(guān)課程的教學(xué)與實訓(xùn),且能進行項目開發(fā)和師資培訓(xùn),打造集成電路人才培養(yǎng)實踐中心,基于S系列源表的集成電路教學(xué)實驗平臺上普賽斯儀表官&網(wǎng)咨詢
基于S系列源表的集成電路教學(xué)實驗平臺認(rèn)準(zhǔn)普賽斯儀表,普賽斯教學(xué)實驗平臺采用一體化設(shè)計,集成了數(shù)字源表、LCR電橋、萬用表、示波器等通用儀表;搭配豐富的測試夾具及實驗教材,滿足基礎(chǔ)實驗教學(xué)需求;測試設(shè)備簡單易用,接線簡單,方便學(xué)生動手操作;

應(yīng)用領(lǐng)域:
分立器件
■MOSFET/BJT靜態(tài)特性參數(shù)測試實驗
■MOSFET/BJT動態(tài)參數(shù)測試實驗
■MOSFET開關(guān)特性測試實驗
■MOSFET電容特性測試實驗
■整流二極管性能測試實驗
■光耦特性測試實驗
■激光器LⅣ特性測試實驗
■三極管放大特性測試實驗
半導(dǎo)體材料
■材料霍爾效應(yīng)測試實驗
■材料電阻率測試實驗
■材料漏電流測試實驗
IC類
■集成基準(zhǔn)電壓源性能測試實驗
■壓控振蕩器測試實驗
■邏輯IC功能和參數(shù)測試實驗
■集成運放特性參數(shù)實驗
■邏輯芯片I/O口特性測試實驗
平臺特色:
基于高精度通用儀表的微電子綜合實驗平臺,提供多種實驗測量環(huán)境;
采用一體化設(shè)計,集成了數(shù)字源表、LCR電橋、萬用表、示波器等通用儀表;
貼合集成電路測試相關(guān)實驗案例,支撐集成電路相關(guān)課程資源和理論教學(xué);
全國產(chǎn)化儀表,符合當(dāng)前國家政策,進口儀表有禁運風(fēng)險;
搭配豐富的測試夾具及實驗教材,滿足基礎(chǔ)實驗教學(xué)需求;
測試器件采用STO封裝,即插即用,方便更換;
測試設(shè)備簡單易用,接線簡單,方便學(xué)生動手操作;
以基礎(chǔ)平臺為起點,可逐步升級,滿足日益增加的實驗室測試需求;
輔助老師編寫教案,提高教學(xué)效率,降低課程開發(fā)的難度;

欲了解更多基于S系列源表的集成電路教學(xué)實驗平臺信息,歡迎隨時上普賽斯儀表官&網(wǎng)咨詢;普賽斯以自主研發(fā)為導(dǎo)向,深耕半導(dǎo)體測試領(lǐng)域,在I-V測試上積累了豐富的經(jīng)驗,先后推出了直流源表,脈沖源表、插卡式源表、脈沖恒流源、高壓程控電源、功率器件靜態(tài)測試系統(tǒng)、半導(dǎo)體參數(shù)分析儀等測試設(shè)備,廣泛應(yīng)用于高校研究所、實驗室,新能源,光伏,風(fēng)電,軌交,變頻器等場景。
用戶評論
發(fā)布評論