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JXA-8530F Plus 場發(fā)射電子探針顯微分析儀

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具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)

公司名稱深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
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廠商性質(zhì)其他
更新時間2021/7/20 20:44:53
訪問次數(shù)375

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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司，經(jīng)過十多年的紫外光專業(yè)技術(shù)沉淀，可以根據(jù)客戶特殊要求提供定制化服務(wù)，研發(fā)設(shè)計組裝：紫外臭氧清洗機(jī)（UV清洗機(jī)），準(zhǔn)分子清洗機(jī)，等離子清洗機(jī)/去膠機(jī)等科研以及生產(chǎn)設(shè)備，擁有自主品牌及注冊商標(biāo)。同時我們代理歐美日多家高科技設(shè)備廠家高性價比產(chǎn)品, 始終堅持創(chuàng)新, 技術(shù), 服務(wù), 誠信的企業(yè)文化，為廣大中國及海外客戶提供的儀器設(shè)備和材料的整體解決方案。應(yīng)用領(lǐng)域: 半導(dǎo)體/微納，光電/光學(xué), 生命科學(xué)/生物醫(yī)療等領(lǐng)域的研發(fā)和生產(chǎn), 客戶群體例如高等院校, 研究所，科技企業(yè)及醫(yī)療機(jī)構(gòu)等。半導(dǎo)體/微納，光電/光學(xué) 產(chǎn)品主要有：德國ParcanNano（Nano analytik）針尖光刻機(jī)，電子束光刻機(jī), 激光直寫光刻機(jī)，紫外光刻機(jī)，微納3D打印機(jī)，德國Sentech刻蝕機(jī)/鍍膜機(jī)及原子沉積，英國HHV磁控/電子束/熱蒸發(fā)鍍膜機(jī)，微波離子沉積機(jī)MPCVD，芬蘭Picosun原子層沉積機(jī)，電子顯微鏡, 德國Bruker布魯克原子力顯微鏡/微納表征/光譜儀, 美國THERMO FISHER賽默飛光譜/色譜/質(zhì)譜/波譜儀，美國Sonix超聲波顯微鏡, 德國耐馳Netzsch熱分析儀, 德國Optosol吸收率發(fā)射率檢測儀, 日本SEN UV清洗機(jī)/UV清洗燈，美國Jelight紫外清洗機(jī)/紫外燈管，德國Diener等離子清洗機(jī)等*技術(shù)產(chǎn)品。生命科學(xué)/生物醫(yī)療產(chǎn)品主要有：PCR儀，核酸質(zhì)譜儀/核酸檢測儀，電子顯微鏡，紫外設(shè)備，光譜/色譜/質(zhì)譜/波譜儀，生物芯片，試劑，實驗耗材等。并可依據(jù)客戶需求，研發(fā)定制相關(guān)產(chǎn)品。我們以高性價比的優(yōu)勢為客戶提供優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品與服務(wù)，為高等院校, 研究所，科技企業(yè)及醫(yī)療機(jī)構(gòu)等客戶提供儀器設(shè)備和材料。

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電子顯微鏡

產(chǎn)品簡介在線詢價

日本JEOL 場發(fā)射電子探針顯微分析儀 JXA-8530F Plus ，采用浸沒式肖特基場發(fā)射電子槍,優(yōu)化了角電流密度，能利用2 A以上的大探針電流進(jìn)行分析，還提高了分析條件下的二次電子像的分辨率。

JXA-8530F Plus 場發(fā)射電子探針顯微分析儀產(chǎn)品信息

日本JEOL 場發(fā)射電子探針顯微分析儀 JXA-8530F Plus

2003年日本電子推出了世界*商業(yè)化場發(fā)射電子探針（FE-EPMA），此后被廣泛地應(yīng)用于金屬、材料、地質(zhì)等各個領(lǐng)域，并獲得了*的贊譽(yù)。研發(fā)的第三代場發(fā)射電子探針JXA-8530F Plus，電子光學(xué)系統(tǒng)有了很大的改進(jìn)，新的軟件能提供更高的通量，并保持著*的穩(wěn)定性，能實現(xiàn)更廣泛的EPMA應(yīng)用。

產(chǎn)品特點：

· 肖特基場發(fā)射電子探針Plus

· JXA-8530F Plus采用浸沒式肖特基場發(fā)射電子槍,優(yōu)化了角電流密度，能利用2 μA以上的大探針電流進(jìn)行分析，還提高了分析條件下的二次電子像的分辨率。

· 高級軟件

· 新開發(fā)了多種基于Windows操作系統(tǒng)的軟件，其中包括：能使痕量元素分析更加簡便的“痕量元素分析程序”、能自動制作相圖的“相圖制作器”以及只需簡單輸入就能對表面凹凸不平樣品進(jìn)行測試的“不平坦樣品的分析程序”等。

· 備注：Windows7® 為美國微軟公司在美國及其它國家的注冊商標(biāo)或商標(biāo)。

· 靈活的WDS配置

· X射線波譜儀可以選擇140 R或100 R羅蘭圓，羅蘭圓半徑為140 mm的XCE/L型X射線譜儀檢測范圍寬，波長分辨率高和P/ B比優(yōu)異，100 mm的H型X射線譜儀具有X射線衍射強(qiáng)度高的特點，可以根據(jù)需要選擇使用。

· WDS/EDS組合系統(tǒng)

· JXA-8530FPlus標(biāo)配了JEOL制造的30平方毫米 SD檢測器（以下簡稱SD檢測器），憑借高計數(shù)率的SD檢測器，在與WDS相同的分析條件下可以進(jìn)行EDS分析，通過簡單的操作就能采集EDS譜圖。

· 多功能樣品室

· 樣品室的可擴(kuò)展性強(qiáng)，配備了樣品交換室，可以安裝各種附件。可以安裝的附件

· • 電子背散射衍射系統(tǒng)（EBSD）

· • 陰極熒光檢測系統(tǒng)

· • 軟X射線分析譜儀

· • 不暴露在大氣環(huán)境下的轉(zhuǎn)移艙

· • 高蝕刻速率的離子源

· 強(qiáng)力、清潔的真空系統(tǒng)

高強(qiáng)力真空系統(tǒng)包括兩臺磁懸浮渦輪分子泵，鏡筒內(nèi)還采用兩個中間室，通過差動抽氣保持電子槍室的高真空。

· 軟X射線分析譜儀 (SXES)

· SXES (Soft X-Ray Emission Spectrometer)　軟X射線分析譜儀

· 日本東北大學(xué)多元物質(zhì)科學(xué)研究所（寺內(nèi)正己教授）和日本電子株式會社共同開發(fā)的的高分辨率軟X射線分析譜儀。新開發(fā)的變柵距衍射光柵(VLS）和高靈敏度的CCD相機(jī)組合，同時檢測Li-K系譜線和B-K系譜線，該譜儀實現(xiàn)了*的能量分辨率，因而能進(jìn)行化學(xué)結(jié)合狀態(tài)分析等。