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產(chǎn)品簡介
單晶少子壽命測試儀產(chǎn)品參數(shù)
| 產(chǎn)地 | 國產(chǎn) | 產(chǎn)品新舊 | 全新 |
| 自動化程度 | 半自動 |
LT-2型單晶少子壽命測試儀
是參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計的用于測量硅單晶的非平衡少數(shù)載流子壽命。半導(dǎo)體材料的少數(shù)載流子壽命測量，是半導(dǎo)體的常規(guī)測試項目之一。本儀器靈敏度較高，配備有紅外光源，可測量包括集成電路級硅單晶在內(nèi)的各種類型硅單晶，以及經(jīng)熱處理后壽命驟降的硅單晶、多晶磷檢棒的壽命測量等。
是參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計的用于測量硅單晶的非平衡少數(shù)載流子壽命。半導(dǎo)體材料的少數(shù)載流子壽命測量，是半導(dǎo)體的常規(guī)測試項目之一。本儀器靈敏度較高，配備有紅外光源，可測量包括集成電路級硅單晶在內(nèi)的各種類型硅單晶，以及經(jīng)熱處理后壽命驟降的硅單晶、多晶磷檢棒的壽命測量等。
單晶少子壽命測試儀詳細(xì)信息
LT-2型單晶少子壽命測試儀
是參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計的用于測量硅單晶的非平衡少數(shù)載流子壽命。半導(dǎo)體材料的少數(shù)載流子壽命測量，是半導(dǎo)體的常規(guī)測試項目之一。本儀器靈敏度較高，配備有紅外光源，可測量包括集成電路級硅單晶在內(nèi)的各種類型硅單晶，以及經(jīng)熱處理后壽命驟降的硅單晶、多晶磷檢棒的壽命測量等。
本儀器根據(jù)通用方法高頻光電導(dǎo)衰退法的原理設(shè)計，由穩(wěn)壓電源、高頻源、檢波放大器，特制的InGaAsp／InP紅外光源及樣品臺共五部份組成。采用印刷電路和高頻接插連接。整機(jī)結(jié)構(gòu)緊湊、測量數(shù)據(jù)可靠。
LT-2型單晶少子壽命測試儀技術(shù)指標(biāo)
測試單晶電阻率范圍>2Ω.cm
配備光源類型
波長：1.09μm；余輝<1 μS；
閃光頻率為：20～30次／秒；
閃光頻率為：20～30次／秒；
高頻振蕩源用石英諧振器，振蕩頻率：30MHz
前置放大器：放大倍數(shù)約25，頻寬2 Hz-1 MHz
儀器測量重復(fù)誤差<±20％
測量方式采用對標(biāo)準(zhǔn)曲線讀數(shù)方式
儀器消耗功率<25W
儀器工作條件：溫度： 10-35℃、 濕度 < 80％、使用電源：AC 220V，50Hz
可測單晶尺寸：斷面豎測：φ25mm—150mm； L 2mm—500mm；
縱向臥測：φ25mm—150mm； L 50mm—800mm；
配用示波器：頻寬0—20MHz；
電壓靈敏：10mV／cm；
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