日本 NAPSON DUORES 手持式薄層電阻測量儀日本 NAPSON DUORES 手持式薄層電阻測量儀

設(shè)備基礎(chǔ)規(guī)格

• 無損渦流探頭測量范圍：0.5-200Ω/□，測點 φ25mm

• 接觸四點探針測量范圍：0.001-4000Ω/□，測點 9mm

• 測量單位：Ω/□，S/□，n/m

• 主機(jī)尺寸：寬 100 × 深 32 × 高 210mm，重量約 350g 不含電池

• 無損探頭尺寸：寬 70 × 深 20 × 高 70mm，重量約 170g

• 接觸探頭尺寸：寬 40 × 深 15 × 高 50mm，重量約 85g

• 數(shù)據(jù)顯示：最多 100 條，數(shù)據(jù)存儲：最多 50000 條

• 供電模式：電池供電，續(xù)航 24 小時

• 數(shù)據(jù)傳輸：USB-Mini 接口

• 核心產(chǎn)品特性DUORES 搭載 NAPSON 原創(chuàng)技術(shù)，一臺主機(jī)可更換兩種探針，兼顧無損檢測與接觸式測量需求。設(shè)備自動觸發(fā)測量，探頭接觸或放置樣品表面即可開始采集數(shù)據(jù)，簡化現(xiàn)場操作流程。機(jī)身采用輕量化手持設(shè)計，方便攜帶至產(chǎn)線或?qū)嶒炇易龆帱c抽檢。數(shù)據(jù)采用四位浮點小數(shù)點顯示，讀數(shù)精度高，可保存海量測量記錄，便于后續(xù)追溯與導(dǎo)出分析。無損渦流探頭無需劃傷樣品表面，適合不可損傷的薄膜工件；四點接觸探針可覆蓋更廣的方阻區(qū)間，適配高阻與低阻導(dǎo)電層檢測。主機(jī)功耗控制優(yōu)異，電池模式可連續(xù) 24 小時不間斷檢測，滿足長時間現(xiàn)場巡檢。可適配多種基底材料，樣品外形尺寸限制小，只要大于測點尺寸即可完成測試，適配多樣化來料檢測需求。

• 適用場景用于 ITO、TCO 導(dǎo)電薄膜、低輻射玻璃、碳納米管、石墨烯、金屬納米線及金屬網(wǎng)格薄膜等材料方阻檢測，基底可適配玻璃、薄膜、紙張等，廣泛應(yīng)用于光學(xué)鍍膜、柔性材料、顯示、新能源材料研發(fā)與產(chǎn)線質(zhì)量管控。