日本 NCC DTSP10 落塵計數(shù)器日本 NCC DTSP10 落塵計數(shù)器

設備基礎規(guī)格

• 最小可測粒徑：10μm

• 粒徑區(qū)分 DTSP10-02：10μm、30μm、50μm、100μm

• 粒徑區(qū)分 DTSP10-03：10μm、30μm、50μm、100μm，11~99μm 可自定義設定

• 晶片規(guī)格：DTSP10-02 采用 4 英寸晶片；DTSP10-03 支持 4 英寸、2 英寸晶片

• 大測試范圍：4 英寸晶片 Φ80mm，2 英寸晶片 Φ30mm

• Trimming 功能：DTSP10-02、DTSP10-034 英寸版本具備，2 英寸版本無

• 切換顯示：DTSP10-02 無，DTSP10-03 支持區(qū)分顯示核心產(chǎn)品特性DTSP10 落塵計數(shù)器區(qū)別于常規(guī)懸浮粒子計數(shù)器，專注于沉降附著粉塵檢測，針對 10μm 以上粗大顆粒物分級統(tǒng)計，這類粗顆粒是無塵車間產(chǎn)品異物不良的主要誘因。采用晶片采集方式，只要可放置晶片的位置均可開展檢測，搭配 2 英寸晶片可進入狹小空間，也可用于爐內、傳送帶等特殊位置的附著粉塵調查。晶片經(jīng)專用治具清潔后能夠反復使用，降低耗材成本。設備配套軟件自動完成粒子識別、計數(shù)與數(shù)據(jù)存儲，替代傳統(tǒng)膠帶采樣加人工顯微鏡觀測的方式，大幅提升檢測效率，減少人為誤差。設備需安置在百級左右無塵環(huán)境下使用，避免外部粉塵干擾檢測結果，可幫助企業(yè)評估無塵室環(huán)境水平，定位異物來源，建立穩(wěn)定的潔凈環(huán)境管控體系。適用場景主要應用于半導體、光學、電子制造等無塵車間，用于潔凈室沉降異物監(jiān)測，排查生產(chǎn)設備、無塵服、產(chǎn)線環(huán)境的附著粉塵，分析粗大落塵與產(chǎn)品缺陷之間的關聯(lián)，也可用于高溫爐體、輸送設備內部附著塵埃的檢測，為無塵車間環(huán)境改善提供量化數(shù)據(jù)支撐。