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雙面檢測(cè)同軸顯微鏡 詳細(xì)摘要： HCM系列同軸顯微鏡是為半導(dǎo)體后端檢測(cè)晶圓刻字偏移、易拉罐開啟口壓痕殘余厚度、通孔垂直偏差、新能源電池防爆片刻痕、MEMS結(jié)構(gòu)重合偏差檢查等專門研發(fā)的?款?具設(shè)...
產(chǎn)品型號(hào)： 所在地： 更新時(shí)間：2025-04-30 參考價(jià)： 面議 在線留言
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蘇州工業(yè)園區(qū)匯光科技有限公司
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詳細(xì)摘要： HCM系列同軸顯微鏡是為半導(dǎo)體后端檢測(cè)晶圓刻字偏移、易拉罐開啟口壓痕殘余厚度、通孔垂直偏差、新能源電池防爆片刻痕、MEMS結(jié)構(gòu)重合偏差檢查等專門研發(fā)的?款?具設(shè)...
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