Phenom AFM-SEM 原子力掃描電鏡一體機(jī)能夠提供多種測(cè)量模式,包括機(jī)械性能、相關(guān)性分析、磁性能、電機(jī)械性能和電性能等,覆蓋了從亞納米級(jí)地形測(cè)量到局部彈性、硬度、磁疇成像、壓電疇成像、導(dǎo)電性映射、局部表面電勢(shì)映射以及局部電性能等多個(gè)領(lǐng)域。
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Phenom AFM-SEM 原子力掃描電鏡一體機(jī)能夠提供多種測(cè)量模式,包括機(jī)械性能、相關(guān)性分析、磁性能、電機(jī)械性能和電性能等,覆蓋了從亞納米級(jí)地形測(cè)量到局部彈性、硬度、磁疇成像、壓電疇成像、導(dǎo)電性映射、局部表面電勢(shì)映射以及局部電性能等多個(gè)領(lǐng)域。
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