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Phenom ProX G7 是飛納推出的臺(tái)式掃描電鏡能譜一體機(jī)，可用于材料成分分析和表面形貌觀察，幫助判斷樣品微區(qū)元素組成。
ParticleX Battery 是飛納推出的自動(dòng)化分析系統(tǒng)，可用于鋰電生產(chǎn)工藝優(yōu)化中的金屬異物識(shí)別、統(tǒng)計(jì)和來(lái)源分析。
Phenom XL G3 是飛納推出的大倉(cāng)室臺(tái)式掃描電鏡，可用于醫(yī)用材料表面形貌分析，幫助觀察材料表面結(jié)構(gòu)、孔隙和缺陷。
Phenom XL G3 是飛納推出的大倉(cāng)室臺(tái)式掃描電鏡，可用于醫(yī)療器械涂層觀察，幫助分析涂層表面、截面和界面形貌。
Phenom XL G3 是飛納推出的大倉(cāng)室臺(tái)式掃描電鏡，可用于水泥材料顆粒形貌分析，幫助觀察顆粒形貌、團(tuán)聚和水化產(chǎn)物特征。
ParticleX Battery 是飛納推出的全自動(dòng)鋰電清潔度分析系統(tǒng)，可用于鋰電池失效分析中的金屬異物識(shí)別和來(lái)源判斷。
Phenom XL G3 是飛納推出的大倉(cāng)室臺(tái)式掃描電鏡，可用于醫(yī)用材料表面形貌分析，幫助觀察材料表面結(jié)構(gòu)、孔隙和缺陷。
加快材料研究的突破性進(jìn)展，您的實(shí)驗(yàn)室需要一臺(tái)具備快速準(zhǔn)確分析大量材料微觀結(jié)構(gòu)的掃描電鏡。第七代飛納臺(tái)式掃描電鏡能譜一體機(jī) Phenom ProX引入了全新一代操...
加快材料研究的突破性進(jìn)展，您的實(shí)驗(yàn)室需要一臺(tái)具備快速準(zhǔn)確分析大量材料微觀結(jié)構(gòu)的掃描電鏡。第六代 Phenom ProX 飛納臺(tái)式掃描電鏡能譜一體機(jī)引入了全新一代...
荷蘭飛納公司推出第二代肖特基場(chǎng)發(fā)射電子源臺(tái)式掃描電鏡 Phenom Pharos G2, 集背散射電子成像、二次電子成像和能譜分析功能于一體。高亮度肖特基場(chǎng)發(fā)射...
第七代飛納臺(tái)式掃描電鏡高分辨率專業(yè)版Phenom Pro 是一款功能*，輕松易用的多功能設(shè)備。長(zhǎng)壽命、高亮度 CeB6 燈絲擴(kuò)展了研究設(shè)備的功能，結(jié)合豐富的樣品...
全新的易于學(xué)習(xí)的界面可幫助您快速掌握新信息，是各種應(yīng)用的理想選擇。Phenom XL G2 臺(tái)式掃描電鏡大樣品室版升級(jí)為全面屏成像，平均成像時(shí)間僅為 40 秒，...
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