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Phenom Pharos G2 是飛納推出的臺(tái)式場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡，可用于半導(dǎo)體表面缺陷觀察，幫助分析器件表面、封裝材料和微小缺陷形貌。Phenom Pharos...

Phenom XL G3 是飛納推出的大倉(cāng)室臺(tái)式掃描電鏡，可用于巖石礦物顆粒分析，幫助觀察礦物顆粒形貌、結(jié)構(gòu)和局部缺陷。Phenom XL G3 平均成像時(shí)間約...

Phenom XL G3 是飛納推出的大倉(cāng)室臺(tái)式掃描電鏡，可用于地質(zhì)礦物樣品觀察，幫助分析礦物顆粒、巖石斷面和微觀結(jié)構(gòu)。Phenom XL G3 平均成像時(shí)間約...

Phenom ProX G7 是飛納推出的臺(tái)式掃描電鏡能譜一體機(jī)，可用于金屬材料形貌與元素分析，幫助觀察斷口、腐蝕、夾雜和缺陷區(qū)域。Phenom ProX G7...

ParticleX Battery 是飛納面向鋰電池清潔度分析推出的自動(dòng)化系統(tǒng)，可用于鋰電池金屬異物檢測(cè)，幫助識(shí)別銅、鋅、鐵等金屬顆粒。ParticleX Ba...

Phenom XL G3 是飛納推出的大倉(cāng)室臺(tái)式掃描電鏡，可用于陶瓷材料斷面觀察，幫助分析晶粒、孔隙、裂紋和斷裂形貌。Phenom XL G3 平均成像時(shí)間約 ...

Phenom XL G3 是飛納推出的大倉(cāng)室臺(tái)式掃描電鏡，可用于混凝土微觀結(jié)構(gòu)觀察，幫助分析孔隙、裂紋和水化產(chǎn)物形貌。Phenom XL G3 平均成像時(shí)間約 ...

Phenom ProX G7 是飛納推出的臺(tái)式掃描電鏡能譜一體機(jī)，可用于材料成分分析和表面形貌觀察，幫助判斷樣品微區(qū)元素組成。

ParticleX Battery 是飛納推出的自動(dòng)化分析系統(tǒng)，可用于鋰電生產(chǎn)工藝優(yōu)化中的金屬異物識(shí)別、統(tǒng)計(jì)和來(lái)源分析。

Phenom XL G3 是飛納推出的大倉(cāng)室臺(tái)式掃描電鏡，可用于醫(yī)用材料表面形貌分析，幫助觀察材料表面結(jié)構(gòu)、孔隙和缺陷。

Phenom XL G3 是飛納推出的大倉(cāng)室臺(tái)式掃描電鏡，可用于醫(yī)療器械涂層觀察，幫助分析涂層表面、截面和界面形貌。

Phenom Pharos G2 是飛納推出的臺(tái)式場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡，可用于科研實(shí)驗(yàn)室高分辨SEM觀察，適合多類(lèi)材料的微納形貌表征。

ParticleX Battery 是飛納推出的鋰電清潔度分析系統(tǒng)，可用于磷酸鐵鋰材料中的金屬異物識(shí)別、成分分析和分類(lèi)統(tǒng)計(jì)。

Phenom XL G3 是飛納推出的大倉(cāng)室臺(tái)式掃描電鏡，可用于太陽(yáng)能電池片形貌觀察，幫助分析電池片表面、截面和缺陷形貌。

ParticleX Battery 是飛納推出的全自動(dòng)鋰電清潔度分析系統(tǒng)，可用于第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)開(kāi)展鋰電清潔度和金屬異物分析。

Phenom XL G3 是飛納推出的大倉(cāng)室臺(tái)式掃描電鏡，可用于光伏材料表面缺陷分析，幫助觀察表面損傷、顆粒和微觀結(jié)構(gòu)。

Phenom XL G3 是飛納推出的大倉(cāng)室臺(tái)式掃描電鏡，可用于水泥材料顆粒形貌分析，幫助觀察顆粒形貌、團(tuán)聚和水化產(chǎn)物特征。

Phenom XL G3 是飛納推出的大倉(cāng)室臺(tái)式掃描電鏡，可用于隔膜材料表面觀察，幫助分析孔結(jié)構(gòu)、表面缺陷和材料形貌。

Phenom XL G3 是飛納推出的大倉(cāng)室臺(tái)式掃描電鏡，可用于建筑材料微觀形貌觀察，幫助分析水泥、混凝土、砂漿等材料結(jié)構(gòu)。

Phenom XL G3 是飛納推出的大倉(cāng)室臺(tái)式掃描電鏡，可用于電池材料微觀形貌分析，幫助觀察顆粒、孔隙、斷面和表面缺陷。