Phenom Pharos G2 是飛納推出的臺式場發(fā)射掃描電鏡，可用于科研實驗室高分辨SEM觀察，適合多類材料的微納形貌表征。

Phenom Pharos G2 采用肖特基熱場發(fā)射電子槍，電子光學放大倍數(shù)可達 2,000,000 X，分辨率優(yōu)于 1.5 nm，適合對高分辨形貌、精細結構和微納尺度特征有要求的研發(fā)與檢測場景。

該產(chǎn)品具備臺式化設計、低/中/高三種真空模式、背散射探測器、二次電子探測器，并可根據(jù)需求選配能譜探測器。具體配置和價格根據(jù)樣品類型、成像需求及功能配置確定，可通過平臺詢價/留言入口獲取選型建議，并預約試樣。

產(chǎn)品特點：

1. 肖特基熱場發(fā)射電子槍，適合高分辨SEM成像。

2. 電子光學放大倍數(shù)可達 2,000,000 X。

3. 分辨率優(yōu)于 1.5 nm，適合微納結構觀察。

4. 加速電壓 1 kV - 20 kV 連續(xù)可調(diào)。

5. 支持低/中/高三種真空模式。

6. 標配背散射探測器和二次電子探測器，可選配能譜探測器。

7. 臺式設計，適合科研、研發(fā)和檢測實驗室部署。

8. 支持選型咨詢，可預約試樣。

應用領域：

可用于科研實驗室高分辨SEM觀察、高校材料研究、企業(yè)研發(fā)、第三方檢測和多類型樣品測試。

技術參數(shù)：

產(chǎn)品型號：Phenom Pharos G2

產(chǎn)品全稱：Pharos 臺式場發(fā)射電鏡

產(chǎn)品類型：臺式場發(fā)射掃描電鏡

光學放大：27 - 160 X

電子光學放大：2,000,000 X

分辨率：優(yōu)于 1.5 nm

電子槍：肖特基熱場發(fā)射電子槍

光學導航相機：彩色

加速電壓：1 kV - 20 kV 連續(xù)可調(diào)

真空模式：低 / 中 / 高三種模式

探測器：背散射探測器、二次電子探測器

可選探測器：能譜探測器

常見問題：

1. 這款設備適合哪些應用？適合納米材料、半導體、碳材料、催化劑、陶瓷、鋰電材料、光伏材料等高分辨形貌觀察場景。

2. 是否可以做元素分析？設備可根據(jù)需求選配能譜探測器，用于顆粒、異物或局部區(qū)域的元素分析。

3. 價格是多少？價格根據(jù)配置、探測器選項和應用需求確定，可通過平臺詢價入口獲取選型建議，并預約試樣。

如需了解 Phenom Pharos G2 在高分辨SEM中的配置方案、應用資料或報價信息，可通過平臺詢價/留言入口提交樣品類型與測試需求，獲取選型建議，并預約試樣。