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詳細摘要： 6寸線高溫試驗箱適用于6寸線生產(chǎn)，堅膜設備-復式高溫試驗箱其特點1，潔凈度高2，上下兩腔一體3，防呆產(chǎn)品特點......

詳細摘要： 高溫試驗箱RUL高溫貯存箱用于考核需測產(chǎn)品在實際使用之前在高溫條件下長期貯存的適應能力。產(chǎn)品特點......

詳細摘要： 高加速壽命試驗箱HAST通過提高環(huán)境應力（溫度）與工作應力（電壓）加快實驗過程，縮短產(chǎn)品壽命時間，評估器件在偏壓下高溫，高濕，高氣壓條件下對濕度的抵抗能力（相比...

詳細摘要： 小型高溫反偏試驗系統(tǒng)HTRBAS-HTRB-C8小型高溫反偏測試系統(tǒng)用于研發(fā)部分評估封裝工藝的穩(wěn)定性，加速缺陷失效率，剔除有隱患的器件或剔除有制造缺陷的器件（剔...

詳細摘要： 可程式真空高溫試驗箱HVT產(chǎn)品特點

詳細摘要： 高壓蒸煮試驗箱PCT安而森高壓加速壽命試驗箱是通過提高環(huán)境應力（溫度）與工作應力（電壓）加快實驗過程，縮短產(chǎn)品壽命時間，評估器件在偏壓下高溫，高濕，高氣壓條件下...

詳細摘要： 高溫反偏試驗系統(tǒng)HTRB適用于IGBT/DIODE/MOSFET/HEMT/BJT/SCR 等器件的高溫反偏試驗;產(chǎn)品應用覆蓋DIP、SOP、SOT、SOD、T...

詳細摘要： 高溫高濕反偏試驗系統(tǒng)H3TRB高溫高濕反偏試驗系統(tǒng)（H3TRB)用于功率半導體器件的環(huán)境老化試驗，比如 Si/SiC/GaN 材料的IGBT/DIODE/MOS...

詳細摘要： 高溫柵偏試驗系統(tǒng)HTGB高溫柵偏試驗系統(tǒng)滿足各種封裝形式IGBT模塊高溫柵偏試驗HTGB和高溫漏電流測試HTIR。用于評估功率模塊工藝的穩(wěn)定性，加速缺陷失效率，...

詳細摘要： 低溫試驗箱LTSL超低溫試驗箱LTSL考核器件在實際使用之前在低溫條件下貯存的適應能力產(chǎn)品特點 ......

詳細摘要： 間歇壽命試驗系統(tǒng)IOL產(chǎn)品特點

詳細摘要： 高溫貯存箱（專用型）高溫貯存箱HTSL是評估器件暴露在溫度下的耐受能力。在一定時間和確定的溫度條件下，HTSL可以加速與熱能激活有關的失效機理，例如晶須，金屬化...

詳細摘要： 高溫高濕反偏試驗系統(tǒng)（H3RTB)高溫高濕反偏試驗系統(tǒng)（H3RTB)用于功率半導體器件的環(huán)境老化試驗，比如 Si/SiC/GaN 材料的IGBT/DIODE/M...

詳細摘要： 可程式恒溫恒濕試驗箱（型號匯總）穩(wěn)態(tài)濕熱試驗箱用于評估器件在高溫，高濕條件下對濕氣的抵抗能力，加速其失效進程，同時可附帶評價器件外觀的寢蝕。主要用于高溫擴散工藝...

詳細摘要： 兩廂式溫度沖擊試驗箱TC（型號匯總）兩廂式溫度沖擊試驗箱TC用于溫度驟變循環(huán)的試驗系統(tǒng)。溫度驟變循環(huán)試驗是在生產(chǎn)階段激發(fā)產(chǎn)品潛在缺陷顯現(xiàn)的一種方式。半導體行業(yè)用...

詳細摘要： 三廂式溫度沖擊箱TS(匯總）高低溫循環(huán)箱(TS)又名高低溫沖擊試驗箱或冷熱沖擊試驗箱，產(chǎn)品主要用于測試產(chǎn)品在高溫、常溫、低溫瞬間轉換的環(huán)境下的貯存、運輸和使用性...

詳細摘要： 高溫反偏試驗系統(tǒng)（上下橋同時加電同時監(jiān)控）AS-HTRB-M8滿足IGBT模塊HTRB功能，上下橋同時加電同時監(jiān)控試驗能力:電壓3000V，建議試驗溫度175℃...

詳細摘要： 高溫柵偏試驗系統(tǒng)AS-HTGB-C12（功率模塊）高溫柵偏試驗系統(tǒng)滿足各種封裝形式IGBT模塊高溫柵偏試驗HTGB和高溫漏電流測試HTIR。用于評估功率模塊工藝...

詳細摘要： ATH-A215恒溫恒濕箱-20℃～+150℃安而森可程式恒溫恒濕試驗箱用于仿真產(chǎn)品在氣候環(huán)境下，操作及儲存的適應性。材料可能發(fā)生軟化、效能降低、特性改變、潛在...

詳細摘要： 穩(wěn)態(tài)濕熱試驗箱85℃/85%RH（型號匯總）安而森穩(wěn)態(tài)濕熱試驗箱又名雙85試驗箱用于評估器件在高溫，高濕條件下對濕氣的抵抗能力，加速其失效進程，同時可附帶評價器...