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詳細摘要： 分立器件高溫反偏試驗系統(tǒng)AS-HTRB-B16用于評估分立器件工藝的穩(wěn)定性，加速缺陷失效率，剔除有隱患的器件或剔除有制造缺陷的器件（剔除早期失效的器件）的一種可...

詳細摘要： 分立器件高溫高濕反偏試驗系統(tǒng)AS-H3TRB-C16一種用于評估分立半導體器件在高溫，高濕，偏壓條件下對濕氣的抵抗能力，加速其失效進程，同時可附帶評價器件外觀的...

詳細摘要： 高壓加速壽命試驗APCT-01H安而森高壓加速壽命試驗箱是通過提高環(huán)境應力（溫度）與工作應力（電壓）加快實驗過程，縮短產品壽命時間，評估器件在偏壓下高溫，高濕，...

詳細摘要： 雙層型恒溫恒濕試驗箱-40~180℃仿真產品在氣候環(huán)境下，操作及儲存的適應性。材料可能發(fā)生軟化、效能降低、特性改變、潛在破壞、氧化等現象。例：填充物和密封條軟化...

詳細摘要： 小型THB測試設備THB測試設備評估功率半導體器件在高溫高濕，低溫低濕，低溫高濕條件下對濕氣的抵抗能力，加速其失效進程，同時可附帶評價功率半導體器件外觀的寢蝕。...

詳細摘要： 超低溫試驗箱LTSL超低溫調溫（調濕)試驗箱LTSL考核器件在實際使用之前在低溫，高溫,濕度條件下貯存的適應能力產品特點......

詳細摘要： 真空高溫箱（專用型）真空高溫箱適用于IGBT功率模塊灌封工藝過程中的氣泡去除（俗稱脫泡）及在真空條件下產品的環(huán)氧樹脂或硅凝膠快速固化，以及適用于一些易氧化物品的...

詳細摘要： 精密高溫試驗箱（通用型）精密高溫試驗箱對灌注化合物進行干燥，熱處理或固化（防止電子元器件受到環(huán)境影響）的熱處理過程，對溫度精度要求較高的非揮發(fā)性物品的干燥、固化...

詳細摘要： 高壓蒸煮壽命箱PCT高壓蒸煮試驗箱又名高壓加速老化壽命試驗箱，主要用于工業(yè)產品或材料的高氣壓高濕試驗，對半導體元器件、機電家電、汽車零部件、通訊行業(yè)等的相關產品...

詳細摘要： HAST老化試驗系統(tǒng)通過提高環(huán)境應力（溫度）與工作應力（電壓）加快實驗過程，縮短產品壽命時間，評估器件在偏壓下高溫，高濕，高氣壓條件下對濕度的抵抗能力（相比于T...

詳細摘要： 壓接式IGBT模塊產線專用無氧充氮高溫試驗箱該設備用于一臺用于在惰性氣氛中燒結銀膏的干燥烘箱，包含氧氣檢測和控制系統(tǒng)、過程監(jiān)控系統(tǒng)等。設備滿足相應的溫度、氧含量...

詳細摘要： 高低溫試驗箱高低溫試驗箱又名高低溫箱，高低溫存貯箱，本產品用于工業(yè)產品和材料的高、低溫試驗，對半導體元器件、機電家電、汽車零部件、、通訊行業(yè)、新能源行業(yè)等的相關...

詳細摘要： 步入式-高低溫室步入式-高低溫室用于溫度可靠性試驗，適用于整機或大型零部件的高溫，低溫，恒溫可靠性試驗。產品特點......

詳細摘要： 恒溫雙85試驗箱（通用型）恒溫雙85試驗箱主要用于工業(yè)產品或材料的高溫高濕試驗，對半導體元器件、機電家電、汽車零部件、通訊行業(yè)、新能源行業(yè)等的相關產品及材料在8...

詳細摘要： 溫度、濕度、振動三綜合試驗箱溫濕度振動三綜合試驗箱是用于模擬在高溫、低溫、濕度、濕熱度及振動為環(huán)境下儲存、運輸、使用適應性的試驗設備。適用試驗類型：高溫試驗，低...

詳細摘要： 快溫變（濕熱）箱（通用型）快速溫變（濕熱）試驗箱，又主要分為線性快溫變試驗箱和非線性快溫變試驗箱，產品主要用于產品或材料的恒定濕熱、交變的可靠性試驗，對半導體元...

詳細摘要： 80L溫度沖擊試驗箱TS-65~150℃安而森試驗設備提供的ATS-A615三廂式溫度沖擊試驗箱，用與測試材料結構或復合材料，在瞬間下經溫，常溫及極低溫的連續(xù)環(huán)...

詳細摘要： 150L溫度沖擊試驗箱TS-40~150℃安而森試驗設備提供的ATS-J415三廂式溫度沖擊試驗箱，用與測試材料結構或復合材料，在瞬間下經溫，常溫及極低溫的連續(xù)...

詳細摘要： 80L溫度沖擊試驗箱TS-55~150℃安而森試驗設備提供的ATS-A515三廂式溫度沖擊試驗箱，用與測試材料結構或復合材料，在瞬間下經溫，常溫及極低溫的連續(xù)環(huán)...

詳細摘要： 鹽霧試驗箱（通用）鹽霧試驗箱為人工氣候環(huán)境“三防"(濕熱、鹽霧、霉菌)試驗設備之一，是模擬大氣中含鹽微小液滴所構成的 彌散系統(tǒng)的設備。被廣泛應用于對電子、電工及...