球差場發(fā)射透射電子顯微鏡 HF5000

200 kV相差校正TEM/STEM，平衡了空間分辨率和傾斜、分析性能

    通過單極片實現(xiàn)0.078 nm的STEM空間分辨率和高樣品傾斜度、高立體角EDX。
    透射電子顯微鏡除了延續(xù)了日立公司配備的球面像差校正器的功能、自動校正功能，像差校正后的SEM圖像和對稱Dual SDD技術等特點。還融匯了透射電子顯微鏡HF系列中所積累的技術。
    對于包括用戶在內的廣泛用戶，我們提供亞?級空間分辨率和高分析性能以及更多樣化的觀察和分析方法。