日本 JEOL JCM-7000Plus 臺式掃描電鏡日本 JEOL JCM-7000Plus 臺式掃描電鏡

設備基礎規(guī)格

• 分辨率：6.0nm (20kV 高真空二次電子像)，8.0nm (20kV 高真空反射電子像)

• 放大倍率：×10～100000 倍

• 圖像模式：高真空 / 低真空模式，支持二次電子、反射電子、3D 立體圖像

• 加速電壓：5kV、10kV、15kV、20kV 四檔可選

• 電子槍：鎢絲 - 韋納爾特一體式柵格

• 樣品臺：X-Y 軸電機驅(qū)動平臺，X:40mm Y:40mm

• 樣品尺寸：直徑 80mm，高度 50mm

核心產(chǎn)品特性這款桌面型掃描電子顯微鏡兼顧高性能與便捷操作，高真空模式下電子束散射少，可獲得清晰微觀形貌，EDS 元素定性分析誤差小。低真空模式能夠直接觀測樣品，省去噴金等預處理步驟，大幅簡化樣品制備流程。搭載 Zeromag 功能，可從光學圖像快速定位觀測視野，設備自動完成聚焦、像差、亮度、圖像對齊等調(diào)節(jié)，快速輸出高質(zhì)量 SEM 圖像。內(nèi)置四種 Live 實時觀測功能，可同步完成形貌觀察、元素成分分析、元素分布 Mapping、三維凹凸重構(gòu)與粒子粒徑自動統(tǒng)計，一鍵獲取粒徑分布、平均值等數(shù)據(jù)?？蛇x NeoAction 自動化模塊，可預設測量流程，自動切換電壓、調(diào)整圖像與位置，實現(xiàn)多點、大面積批量重復測量，從數(shù)據(jù)采集到報告輸出自動化。整機為臺式緊湊型設計，降低場地安裝門檻，適配材料實驗室日常微觀檢測，操作界面直觀，降低電鏡操作門檻，穩(wěn)定輸出可溯源的微觀檢測數(shù)據(jù)。

適用場景廣泛應用于粉體材料、纖維、金屬斷口、電子元器件、無機填料、石棉等樣品的微觀形貌觀察、元素成分定性分析、顆粒粒徑統(tǒng)計，可用于材料研發(fā)、失效分析、品質(zhì)管控、異物分析等領域，適合高校、科研院所、材料企業(yè)、電子制造企業(yè)的微觀檢測實驗室。