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產(chǎn)品簡介
追求理想的TEM樣品制備工具
在高科技設(shè)備及高性能納米材料的評價(jià)和分析領(lǐng)域，FIB-SEM已成為的工具。
近來，目標(biāo)觀察物更趨微細(xì)化；更薄，更低損傷樣品的制備需求更進(jìn)一步凸顯。
日立高新公司，整合了高性能FIB技術(shù)和高分辨SEM技術(shù)，再加上加工方向控制技術(shù)以及Triple Beam®*1（選配）技術(shù)，推出了新一代產(chǎn)品NX2000。
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您訪問的FIB-SEM三束系統(tǒng) NX2000產(chǎn)品信息，由拓精儀器科技（上海）有限公司自行發(fā)布提供，產(chǎn)品價(jià)格為面議，如您想了解更多關(guān)于FIB-SEM三束系統(tǒng) NX2000型號、參數(shù)、用途等信息，歡迎咨詢。
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