高壓放電法密封檢測(cè)儀Leak-HD技術(shù)使用*的微電流高壓放電模式,采用少于傳統(tǒng)高電壓技術(shù)50%的電壓。該方案的特性是可以測(cè)試極低導(dǎo)電率液體如無(wú)菌水(WFI)的包裝。在測(cè)試過(guò)程中應(yīng)用到產(chǎn)品的微電流大大減少了暴露到產(chǎn)品和環(huán)境的電壓。實(shí)際上,采用PTI的微電流高壓放電減少了對(duì)產(chǎn)品的電壓暴露到少于5%的電壓暴露當(dāng)采用相當(dāng)?shù)母邏悍烹姺桨笢y(cè)試時(shí)。

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　　高壓放電法密封檢測(cè)儀Leak-HD是檢測(cè)安瓿瓶、西林瓶等細(xì)小玻璃瓶是否存在微裂縫或小漏孔，因而影響玻璃容器無(wú)菌性的較佳設(shè)備整機(jī)結(jié)構(gòu)緊湊、簡(jiǎn)潔。

　　每個(gè)容器，傾斜至水平位置，對(duì)其兩端施加高壓放電進(jìn)行測(cè)試。
 
無(wú)泄漏容器是較好的絕緣體，而存在細(xì)微裂紋或小孔的容器則有較小電流通過(guò)液體導(dǎo)電。
 
兩個(gè)電極在容器中重復(fù)測(cè)試兩次，即使在低電導(dǎo)率的液體中也能檢測(cè)出微米范圍內(nèi)的微孔。
 
容器傾斜技術(shù)使得整機(jī)結(jié)構(gòu)非常緊湊、易于清洗和維護(hù)。
 
對(duì)于僅僅是容器的大小變化，是無(wú)需做任何的調(diào)整。
 
反復(fù)驗(yàn)證的結(jié)果以及簡(jiǎn)單的設(shè)置，主要得益于智能還原參數(shù)和高電壓信號(hào)綜合測(cè)試設(shè)備使得機(jī)器的驗(yàn)證更為便捷。

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