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制藥網>產品展廳>儀器儀表>物性測試儀器>其它物性測試儀器>1 三明MuraViewer II正反面凹凸缺陷檢查裝置

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產品簡介

三明MuraViewer II正反面凹凸缺陷檢查裝置產品參數

產地 進口 產品新舊 全新
日本sanmei三明MuraViewer II正反面凹凸缺陷檢查裝置,專為顯示面板與光學玻璃研發(fā)的全自動正反面微觀缺陷檢查裝置。該設備利用精密上下雙路光學成像系統(tǒng),結合人眼視覺模型與JND恰可察覺差異算法,能精準捕捉并量化全貼合制程中的應力凹凸、微弱Mura(亮度不均)、微細劃痕及各類臟污缺陷。系統(tǒng)支持正反面同步成像比對,自動識別缺陷面并輸出OK/NG判定

三明MuraViewer II正反面凹凸缺陷檢查裝置詳細信息

日本sanmei三明MuraViewer II正反面凹凸缺陷檢查裝置 【產品概述】

MuraViewer II 正反面凹凸缺陷檢查裝置由日本 sanmei三明株式會社研發(fā)。針對FPD(平板顯示)與精密光學行業(yè)面臨的“Mura檢測主觀性強、微小凹凸難以量化”的痛點,該設備引入了光學測量與圖像處理算法。通過模擬人眼對低對比度缺陷的敏感度,MuraViewer II 能將人眼難以察覺的邊緣色偏、全貼合應力不均等缺陷進行可視化、數據化呈現(xiàn),是面板模組廠、全貼合廠及光學玻璃深加工企業(yè)提升出貨良率的核心質控裝備。

日本sanmei三明MuraViewer II正反面凹凸缺陷檢查裝置 【核心性能與優(yōu)勢】

  1. 正反面雙路成像與缺陷源自動識別:
    裝置采用上下同步光學成像系統(tǒng),可同時或快速切換獲取工件正反兩面的高清圖像。通過算法自動比對與差異分析,系統(tǒng)能精準判斷缺陷究竟位于正面、反面還是內部夾層,有效排除單面檢測的誤判與漏判,提高檢測通過率。

  2. 基于JND算法的Mura缺陷量化檢測:
    引入JND(Just Noticeable Difference,恰可察覺差異)視覺科學模型。設備能將極低灰階下的微弱亮暗不均、云霧狀凹凸轉化為可測量的灰度數據與色彩分布圖,打破傳統(tǒng)暗室檢測中依賴人眼和ND濾光片的主觀誤差。

  3. 全貼合應力與3D微觀形貌捕捉:
    針對OLED/LCD全貼合制程中因OCA/OCR膠水固化收縮、UV固化收縮產生的應力型凹凸,設備能夠通過高精度明暗場結構光成像,將表面微小的起伏轉化為可視化的3D形貌圖,并自動劃分缺陷等級。

  4. 高速自動判定與產線無縫對接:
    支持多通道并行檢測,針對面板、車載顯示屏幕及精密薄膜,能實時輸出包含缺陷類型(點狀、線狀、塊狀Mura)、位置、大小及嚴重程度(NG/OK)的檢測報告,并支持與產線MES系統(tǒng)對接,實現(xiàn)質量數據的實時追溯。

【技術參數表】

表格
下載為表格
導出為圖片
參數項目技術規(guī)格
產品型號MuraViewer II
品牌sanmei(日本三明株式會社)
檢測項目正反面凹凸、Mura(亮暗不均)、微細劃痕、臟污、色偏
光學系統(tǒng)上下雙路高分辨率精密成像系統(tǒng)
量化標準JND(恰可察覺差異)視覺模型 + 3D形貌量化
適用工件LCD/OLED面板、車載顯示模組、觸控面板、防眩光(AG)玻璃
檢測判定全自動OK/NG判定,可自定義缺陷分級公差
數據輸出缺陷坐標、灰度/色差數據、3D形貌圖、JND可視化熱力圖

【典型應用領域】

  • 平板顯示(FPD)制造:用于LCD、OLED、Mini/Micro LED面板在陣列(Array)、成盒(Cell)及模組(Module)制程中的Mura全檢,特別是IC綁定(COG)區(qū)域的熱壓形變與邊緣應力檢測。

  • 全貼合與模組組裝:針對車載中控屏、平板電腦、智能手機屏幕的全貼合制程,檢測因OCA/OCR膠水厚度不均或固化收縮導致的“彩虹紋”、“水波紋”及貼合氣泡。

  • 精密光學玻璃與薄膜:用于智能手機蓋板玻璃、防眩光(AG)玻璃、觸控面板(Touch Panel)以及鋰電池隔膜、偏光片在生產過程中的表面凹凸、劃痕及臟污全自動篩查。


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