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功率半導(dǎo)體靜態(tài)測試設(shè)備可靈活搭配板卡

參考價(jià)	￥ 1000
訂貨量	≥1臺(tái)

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

公司名稱武漢普賽斯儀表有限公司
品牌其他品牌
型號(hào)ATE-3146
所在地武漢市
廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
更新時(shí)間2026/3/25 9:20:52
訪問次數(shù)117

產(chǎn)品標(biāo)簽:

IGBT靜態(tài)參數(shù)測試機(jī)功率半導(dǎo)體測試 iv+cv曲線測試儀功率器件靜態(tài)參數(shù)功率半導(dǎo)體器件igbt靜態(tài)參數(shù)測試機(jī)

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武漢普賽斯儀表有限公司坐落于國家*產(chǎn)業(yè)基地“武漢·中國光谷”，是一家集研發(fā)、生產(chǎn)、銷售、服務(wù)于一體的技術(shù)型企業(yè)，擁有以碩士、博士學(xué)歷為主的研發(fā)團(tuán)隊(duì)和經(jīng)驗(yàn)豐富的管理服務(wù)團(tuán)隊(duì)。
普賽斯儀表自主研發(fā)的高精度臺(tái)式數(shù)字源表、脈沖式源表、集成插卡式源表、窄脈沖電流源、高精度高壓電源等(加V了解詳情whpssins)，甜補(bǔ)國產(chǎn)空白。主要應(yīng)用于半導(dǎo)體器件的測試工藝，為客戶提供模塊化硬件、高效驅(qū)動(dòng)程序和高效算法軟件組合，幫助用戶構(gòu)建自定義解決方案。為半導(dǎo)體封測廠家提供相關(guān)測試儀表、測試平臺(tái)，以及相關(guān)技術(shù)服務(wù)，滿足行業(yè)對(duì)測試效率、測試精度，以及低成本的挑戰(zhàn)。

武漢普賽斯將以服務(wù)客戶為中心，追求可持續(xù)發(fā)展為道路，精益求精，堅(jiān)持不懈，努力將自身打造成行業(yè)表?xiàng)U。

展開顯示更多內(nèi)容

源表,數(shù)字源表,脈沖電流源,脈沖源表,VCSEL測試系統(tǒng)

產(chǎn)品簡介在線詢價(jià)

產(chǎn)地	國產(chǎn)	產(chǎn)品新舊	全新
自動(dòng)化程度	半自動(dòng)	集電極-發(fā)射極 Z大電壓	1200V(蕞大支持3500V)
集電極-發(fā)射極蕞大電流	400A(蕞大支持2000A)	漏電流測試范圍	100pA-20mA

ATE-3146型功率半導(dǎo)體靜態(tài)測試設(shè)備可靈活搭配板卡采用普賽斯自主開發(fā)的測試主機(jī)，內(nèi)置高壓模塊，低壓模塊，高流模塊，電容模塊、高壓采集卡、DIO卡等。配合探針臺(tái)Prober、分選機(jī)Handler可以實(shí)現(xiàn)KGD裸芯片，DBC測試，F(xiàn)T測試等。結(jié)合專用上位機(jī)測試軟件，可根據(jù)測試項(xiàng)目需要，設(shè)置不同的電壓、電流等參數(shù)，以滿足不同測試需求

功率半導(dǎo)體靜態(tài)測試設(shè)備可靈活搭配板卡產(chǎn)品信息

普賽斯ATE-3146功率半導(dǎo)體靜態(tài)測試設(shè)備可靈活搭配板卡是一款專注于Si/SiC MOSFET、IGBT、GaN HEMT等功率芯片及器件的靜態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)；采用PXIe通信架構(gòu)方案，支持板卡靈活擴(kuò)展與高精度電學(xué)特性分析；支持單卡1200V大電壓、單卡400A大電流輸出，且蕞大可擴(kuò)展至3500V、2000A；可與探針臺(tái)(Prober)、分選機(jī)(Handler)等外設(shè)聯(lián)機(jī)使用，應(yīng)用于半導(dǎo)體產(chǎn)線KGD、DBC及FT工站的芯片及器件的高效分選測試。

功率半導(dǎo)體靜態(tài)測試設(shè)備可靈活搭配板卡

產(chǎn)品特點(diǎn)：

單工站MOS DC IV參數(shù)測試UPH高達(dá)9K(注：單工站，7個(gè)DC IV測試項(xiàng))

單臺(tái)主機(jī)支持3工站IV+CV或4工站IV并行測

專用于Si/SiC MOSFET、二極管、三極管、IGBT等KGD、DBC及FT測試

采用PXIe板卡架構(gòu)，可根據(jù)需求靈活搭配板卡實(shí)現(xiàn)精準(zhǔn)把控測試成本

單卡高達(dá)2G局部通信總線帶寬支持PXIe，TrigBus同步觸發(fā)支持高達(dá)8線局部總線同步

6U標(biāo)準(zhǔn)板卡兼容3U板卡

提供單卡1200V大電壓、單卡400A大電流輸出能力

支持?jǐn)U展高壓、高流模組，蕞高可達(dá)3500V/2000A

內(nèi)置精密測量電路,實(shí)現(xiàn)皮安級(jí)和uΩ級(jí)的精準(zhǔn)測量

CV測試中速模式下基本精度高達(dá)0.05%

測試項(xiàng)目

二極管：反向擊穿電壓VR、反向漏電流IR、正向電壓VF、正向電流IF、電容值Cd

三極管：V(BR)CEO、V(BR)CBO、V(BR)EBO、ICBO、ICEO、IEBO、VCESAT、VBESAT、增益hFE、Cobo、Cibo

Si MOS/IGBT/SiC MOS/GaN FET：V(BR)DSS/V(BR)CES、IDSS/ICES、VCE(sat)、RDS(on)、VSD/VF、VGS(th)/VGE(th)、IGSS/IGES、柵極內(nèi)阻Rg、輸入電容Ciss/Cies、輸出電容Coss/Coes、反向傳輸電容Crss/Cres、跨導(dǎo)gfs

功率半導(dǎo)體靜態(tài)測試設(shè)備可靈活搭配板卡

系統(tǒng)組成

普賽斯ATE-3146靜態(tài)測試機(jī)，主要包括測試主機(jī)及板卡，測試夾具，工控機(jī)、上位機(jī)軟件等構(gòu)成。整套系統(tǒng)采用普賽斯自主開發(fā)的測試主機(jī)，內(nèi)置高壓模塊，低壓模塊，高流模塊，電容模塊、高壓采集卡、DIO卡等。配合探針臺(tái)Prober、分選機(jī)Handler可以實(shí)現(xiàn)KGD裸芯片，DBC測試，F(xiàn)T測試等。結(jié)合專用上位機(jī)測試軟件，可根據(jù)測試項(xiàng)目需要，設(shè)置不同的電壓、電流等參數(shù)，以滿足不同測試需求。測試數(shù)據(jù)可保存與導(dǎo)出，支持各類格式。

關(guān)鍵詞：分選機(jī)