奧本精密公司生產(chǎn)的平行平晶是以光波干涉原理為基礎(chǔ)，利用平晶的測(cè)量面與試件的被測(cè)量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來測(cè)量被測(cè)量面的誤差程度。 一般由4塊厚度不同的平晶組合而成使用，也可一個(gè)單獨(dú)使用。 奧本平行平晶具有高精度的平面性和平行性。
訂貨號(hào) 通用標(biāo)準(zhǔn)平行平晶 Aubat20p 高精度平行平晶 φ30*12 平面度＜0.1μm Aubat21p 一般精度平行平晶 φ30*12 平面度＜0.2μm 訂貨號(hào) 千分尺專用平行平晶 Aubat22p 0-25mm千分尺專用 φ30*12/12.12/ 平面度0.03μm Aubat23p 0-25mm千分尺專用 φ30*12/12.12/ 平面度0.1μm Aubat24p 25-50mm千分尺專用 φ30*25/25.12/ 平面度0.03μm Aubat25p 25-50mm千分尺專用 φ30*25/25.12/ 平面度0.1μm 奧本精工歡迎來電來郵咨詢選購(gòu)平行平晶 /
平行度＜0.2μm
平行度＜0.4μm
12.25/12.37
平行度＜0.2μm
12.25/12.37
平行度＜0.2μm
25.25/25.37
平行度＜0.2μm
25.25/25.37
平行度＜0.2μm
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