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BHAST偏壓加速老化試驗箱

適用于IC封裝，半導體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴性試驗，使用于在產品的設計階段，用于快速暴露產品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)。測試其制品的密封性和老化性能。B-HAST高加速壽命偏壓老化測試系統(tǒng)是將被測元件放置于一定的環(huán)境溫度中,（環(huán)境溫度依據被測元件規(guī)格設定）給被測元件施加一定的偏置電壓。

BHAST偏壓加速老化試驗箱B-HAST高加速壽命偏壓老化測試系統(tǒng)適用于IC封裝，半導體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴性試驗，使用于在產品的設計階段，用于快速暴露產品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)。測試其制品的密封性和老化性能。B-HAST高加速壽命偏壓老化測試系統(tǒng)是將被測元件放置于一定的環(huán)境溫度中,（環(huán)境溫度依據被測元件規(guī)格設定）給被測元件施加一定的偏置電壓。同時控制系統(tǒng)實時檢測每個材料的漏電流，電壓，并根據預先設定，當被測材料實時漏電流超出設定時，自動切斷被測材料的電壓，可以保護被測元件不被進一步燒毀。

BHAST偏壓加速老化試驗箱

·每顆器件的Vgs獨立控制

·實時監(jiān)測每個試驗器件的Id、Ig

· 控制上、下電時序

· 全過程試驗數據保存于硬盤中，可輸出Excel

·試驗報表和繪制全過程漏電流IR變化曲線

·漏電流超限保護，自動切斷測量回路