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CSK-IA、CSK-IIA、CSK-IIIA標(biāo)準(zhǔn)探傷試塊

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具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

公司名稱深圳市時(shí)代之峰科技有限公司
品牌
型號(hào)CSK-IA，CSK-IIA，CSK-IIIA
所在地
廠商性質(zhì)其他
更新時(shí)間2021/8/3 18:45:20
訪問次數(shù)450

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深圳市時(shí)代之峰科技有限公司成立于2009年11月18日，它是依托多年來形成的檢測儀器領(lǐng)域的技術(shù)優(yōu)勢而建立的專業(yè)化高科技企業(yè)。深圳市時(shí)代之峰公司自成立以來，“深圳市代之峰”努力追求成為政府、企業(yè)及社會(huì)各單位值得信賴的專業(yè)化儀器儀表測試測量方案解決方案專家。通過我們的努力，幫助企事業(yè)單位提高工作中的測試測量問題解決水平，很榮幸與您一起道路上壯大。我們堅(jiān)持以高質(zhì)優(yōu)價(jià)的儀器、專業(yè)的技術(shù)解決方案、上等的服務(wù)為宗旨，憑借雄厚的技術(shù)實(shí)力和服務(wù)經(jīng)驗(yàn)，為用戶提供上等的解決方案。峰的檢測儀器產(chǎn)品包括時(shí)代里氏硬度計(jì)、邵氏硬度計(jì)、洛氏硬度計(jì)、粗糙度儀、涂層測厚儀、超聲波測厚儀、測振儀、紅外測溫儀、超聲波探傷儀、激光測徑儀等在內(nèi)的12個(gè)系列，近百種型號(hào)。

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CSK-IA、CSK-IIA、CSK-IIIA標(biāo)準(zhǔn)探傷試塊，中華人民共和國行業(yè)CSK-IA、CSK-IIA、CSK-IIIA標(biāo)準(zhǔn)探傷試塊 JB4730-2005，本部分適用于金屬材料制承壓設(shè)備用原材料、零部件和焊接接頭的超聲檢測，也適用于金屬材料制在用承壓設(shè)備的超聲檢測。與承壓設(shè)備有關(guān)的支承件和結(jié)構(gòu)件的超聲檢測，也可參照本部分使用

CSK-IA、CSK-IIA、CSK-IIIA標(biāo)準(zhǔn)探傷試塊產(chǎn)品信息

CSK-IA、CSK-IIA、CSK-IIIA標(biāo)準(zhǔn)探傷試塊
中華人民共和國行業(yè)CSK-IA、CSK-IIA、CSK-IIIA標(biāo)準(zhǔn)探傷試塊 JB4730-2005
本部分適用于金屬材料制承壓設(shè)備用原材料、零部件和焊接接頭的超聲檢測，也適用于金屬材料制在用承壓設(shè)備的超聲檢測。與承壓設(shè)備有關(guān)的支承件和結(jié)構(gòu)件的超聲檢測，也可參照本部分使用。標(biāo)準(zhǔn)試塊是指部分規(guī)定的用于儀器探頭系統(tǒng)新能校準(zhǔn)和檢測校準(zhǔn)的試塊。標(biāo)準(zhǔn)試塊應(yīng)采用與被檢測工件相同或近似的材料制成。該材料用直探頭檢測時(shí)，不得有大于Φ2mm平底孔當(dāng)量直徑的缺陷。對比試塊是指用于檢測校準(zhǔn)的試塊。對比試塊的外形尺寸應(yīng)能代表被檢工件的特征，試塊厚度應(yīng)與被檢工件的厚度相對應(yīng)。如果涉及到兩種或兩種以上不同厚度部件焊接接頭的檢測，試塊的厚度應(yīng)由其*大厚度來確定。
（1）:CSK-IA是我國鍋爐和鋼制壓力容器對焊縫超聲波探傷JB1152-81標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的標(biāo)準(zhǔn)試塊，是基于IIW試塊改進(jìn)得到的。
①、臺(tái)階孔?50、?44、?40，便于測定橫波斜探頭的分辨力；
②、R100、R50階梯圓弧，便于調(diào)整橫波掃描速度和探測范圍；
③、標(biāo)定的折射角開為K值（K=tgβ），可直接測出橫波斜探頭的K值。
（2）:CSK-IIA是國家行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)試塊，CSK-IIA適用于壁厚范圍為8-120mm的焊縫。
（3）CSK-IIIA超聲波標(biāo)準(zhǔn)試塊
CSK-IA、CSK-IIA、CSK-IIIA標(biāo)準(zhǔn)探傷試塊適用于壁厚范圍為6-120mm的焊接接頭，CSK-IA和CSK-IVA系列試塊用壁厚范圍大于120-400mm的焊接接頭。
CSK-IB（CSK-IA）試塊及專用翻轉(zhuǎn)架
CSK-IB試塊在原有CSK-IA的基礎(chǔ)上增加了測試斜探頭折射角的刻度面。形狀和尺寸如圖2-1所示：
使用要點(diǎn)：
① 利用R100mm曲面測定斜探頭的入射點(diǎn)和前沿長度；
② 利用Φ50和1.5mm圓孔測定斜探頭的折射角；
③ 利用試塊直角棱邊測定斜探頭聲束軸線的偏離情況；
④ 利用25mm厚度測定探傷儀水平線性、垂直線性和動(dòng)態(tài)范圍；
⑤ 利用25mm厚度調(diào)整縱波探測范圍和掃描速度；
⑥ 利用R50和R100mm曲面調(diào)節(jié)橫波探測范圍和掃描速度；
⑦ 利用φ50、φ44和φ40mm 三個(gè)臺(tái)階孔測定斜探頭分辨力。
CSK-IA、CSK-IIA、CSK-IIIA標(biāo)準(zhǔn)探傷試塊價(jià)格表

試塊價(jià)格表
名稱/型號(hào)		單位	單價(jià)（元）	說明
CSK-IA		塊	1600	含支架(含使用說明書）
翻轉(zhuǎn)架		臺(tái)	660
CSK-IIA	1#	塊	860	含支架
	2#	塊	1800	含支架
	3#	塊	3300
CSK-IIIA		塊	960
翻轉(zhuǎn)架		臺(tái)	660
CSK-IVA	1#	塊	6500
	2#	塊	8600
	3#	塊	15000
DZ-1		塊	1800	引用JB/T9214標(biāo)準(zhǔn)
DB-P Z20-2		塊	780	引用JB/T9214標(biāo)準(zhǔn)
階梯平底試塊		塊	980
板材超聲對比試塊	1#	塊	760	適用于板厚20-40mm
	2#	塊	850	適用于板厚40-60mm
	3#	塊	1600	適用于板厚60-100mm
	4#	塊	3200	適用于板厚100-150mm含支架
	5#	塊	4200	適用于板厚150-200mm含支架
	6#	塊	5300	適用于板厚200-250mm含支架
CS-2 1#-6#		塊	540
CS-2 7#-12#		塊	650
CS-2 13#-18#		塊	780
CS-2 19#-24#		塊	960
CS-2 25#-30#		塊	1300
CS-2 31#-33#		塊	1800
CS-3		塊	1800	全套3塊5400元
CS-4		塊	580	全套14塊8120元
螺栓坯件徑向檢測對比試塊 R20		塊	4500
螺栓坯件徑向檢測對比試塊 R25		塊	4500
螺栓坯件徑向檢測對比試塊 R32		塊	4500
螺栓坯件徑向檢測對比試塊 R38		塊	5400
螺栓坯件徑向檢測對比試塊 R48		塊	5400
螺栓坯件徑向檢測對比試塊 R60		塊	5800
螺栓坯件徑向檢測對比試塊 R75		塊	5800
螺栓坯件徑向檢測對比試塊 R90		塊	6800
奧氏體鋼鍛件試塊		套	58820	全套27塊
橫向缺陷對比樣管		根	980	來料加工
縱向缺陷對比樣管		根	980	來料加工
GS試塊		塊	1300	全套4塊5200元
超聲測厚試塊A		塊	780
超聲測厚試塊B		塊	680
堆焊層側(cè)測厚用試塊		塊	2800	基板為20#鋼，堆焊層為304不銹鋼
基材側(cè)測厚用試塊		塊	2800	基板為20#鋼，堆焊層為304不銹鋼
測定儀器和探頭組合性能試塊		塊	560
板材斜探頭檢測對比試塊		塊	按圖報(bào)價(jià)
鍛件斜探頭檢測對比試塊		塊	按圖報(bào)價(jià)
T1型堆焊層試塊		塊	3800	基板為20#鋼，堆焊層為304不銹鋼，基材厚度≤50mm，堆焊層≤20mm
T2型堆焊層試塊		塊	3800
T3型堆焊層試塊		塊	2800
鋁及鋁合金對比試塊	1#	塊	1600
鋁及鋁合金對比試塊	2#	塊	2200
鈦合金對比試塊	1#	塊	4600
鈦合金對比試塊	2#	塊	5600
奧氏體不銹鋼對接接頭對比試塊	1#	塊	2200	材料：304不銹鋼
	2#	塊	3600	材料：304不銹鋼
	3#	塊	4600	材料：304不銹鋼
RB-L	1#	塊	1600	≤φ200管徑，壁厚25mm
RB-L	2#	塊	2500	≤φ200管徑，壁厚60mm
RB-C		塊	1400	20mm≤壁厚≤60mm

CSK-IA超聲波檢測試塊 RB-1超聲波標(biāo)準(zhǔn)試塊 V-2牛角試塊 IIW2試塊 V1試塊(IIW1)試塊試塊(超聲波試塊)">DC試塊(超聲波試塊) 試塊(超聲波試塊)">DSC試塊(超聲波試塊) 超聲波標(biāo)準(zhǔn)試塊 GB/T11345-89">RB-2超聲波標(biāo)準(zhǔn)試塊 GB/T11345-89 超聲波標(biāo)準(zhǔn)試塊 GB/T11345-89">RB-3超聲波標(biāo)準(zhǔn)試塊半圓階梯試塊 GB/T18852-2002">HS半圓階梯試塊曲面對比試塊(超聲波試塊)">GB/T 6402-1991曲面對比試塊(超聲波試塊) 試塊(超聲波試塊)">DB-P試塊(超聲波試塊) DB-P試塊超聲波試塊">DB-H1試塊 DB-H2試塊標(biāo)準(zhǔn)試塊(超聲波試塊)">CBI標(biāo)準(zhǔn)試塊(超聲波試塊) 標(biāo)準(zhǔn)試塊(超聲波試塊)">CBII標(biāo)準(zhǔn)試塊(超聲波試塊) 試塊(超聲波試塊)">CBII-1 CBII-2 CBII-3 CBII-4試塊(超聲波試塊) 試塊(超聲波試塊)">CBII-5 CBII-6試塊(超聲波試塊) 標(biāo)準(zhǔn)試塊(單晶直探頭試塊)">CSI標(biāo)準(zhǔn)試塊(單晶直探頭試塊) 標(biāo)準(zhǔn)試塊(雙晶直探頭試塊)">CSII-2試塊 CSII-4標(biāo)準(zhǔn)試塊 CSII-6標(biāo)準(zhǔn)試塊(雙晶直探頭試塊) 超聲波標(biāo)準(zhǔn)試塊">CSK-IIIA超聲波標(biāo)準(zhǔn)試塊