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日本電子 JXA-8530F 電子探針顯微鏡分析儀

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公司名稱上海禹重實(shí)業(yè)有限公司
品牌
型號(hào)
所在地
廠商性質(zhì)其他
更新時(shí)間2021/8/1 14:38:38
訪問(wèn)次數(shù)370

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公司介紹主營(yíng)產(chǎn)品

上海禹重實(shí)業(yè)有限公司（以下簡(jiǎn)稱禹重科技®）是一家以服務(wù)introduce中國(guó)市場(chǎng)為主的進(jìn)口儀器貿(mào)易和檢測(cè)技術(shù)服務(wù)公司，下設(shè)三個(gè)事業(yè)部和一個(gè)中心，即分析儀器事業(yè)部、實(shí)驗(yàn)室服務(wù)事業(yè)部、項(xiàng)目開發(fā)部、以及中禹聯(lián)重檢測(cè)技術(shù)中心。目前除上?？偛客?，我們已建立北京、沈陽(yáng)、太原、長(zhǎng)沙、廣州、青島和成都等分支機(jī)構(gòu)。為客戶提供更專業(yè)、更安全、更便捷的產(chǎn)品和服務(wù)是我們禹重科技®的目標(biāo)。

禹重科技®作為Thermo Science（賽默飛）、DIONEX（戴安）、Gilson（吉爾森）和Tekmar（泰克瑪）等品牌的核心代理商，依托（香港）亞測(cè)科技有限公司（Amicrotest Technology Limited），我們將分析測(cè)試前沿技術(shù)和產(chǎn)品帶給國(guó)內(nèi)客戶，為眾多企業(yè)和高校、科研院所以及政府機(jī)構(gòu)的產(chǎn)品研發(fā)、質(zhì)量控制、合規(guī)運(yùn)營(yíng)，提供成分分析儀器、表面分析儀器、自動(dòng)化樣品前處理儀器和物理力學(xué)儀器等綜合性儀器解決方案，同時(shí)提供儀器配套設(shè)備和標(biāo)準(zhǔn)樣品耗材的銷售，材料測(cè)試等實(shí)驗(yàn)室服務(wù)。

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成分分析儀，表面分析儀，光譜儀

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日本電子 JXA-8530F 電子探針顯微鏡分析儀可以安裝通用性強(qiáng)、使用方便的能譜儀X射線探測(cè)器，組合使用WDS和EDS，能提供無(wú)縫、舒適的分析環(huán)境。日本電子新開發(fā)出的EPMA （電子探針）秉承近半個(gè)世紀(jì)的EPMA的發(fā)展歷史，JXA-8230具備用戶友好的操作、通過(guò)新式簡(jiǎn)單易用的PC 用戶界面提供完整范圍的高精度、快速分析，這是JEOL長(zhǎng)年來(lái)對(duì)高可靠性硬件不斷改良的結(jié)果。

日本電子 JXA-8530F 電子探針顯微鏡分析儀產(chǎn)品信息

日本電子 JXA-8530F 電子探針顯微鏡分析儀可以安裝通用性強(qiáng)、使用方便的能譜儀X射線探測(cè)器，組合使用WDS和EDS，能提供無(wú)縫、舒適的分析環(huán)境。日本電子新開發(fā)出的EPMA （電子探針）秉承近半個(gè)世紀(jì)的EPMA的發(fā)展歷史，JXA-8230具備用戶友好的操作、通過(guò)新式簡(jiǎn)單易用的PC 用戶界面提供完整范圍的高精度、快速分析，這是JEOL長(zhǎng)年來(lái)對(duì)高可靠性硬件不斷改良的結(jié)果。JXA-8230電子探針是下一代能*多種需求的強(qiáng)力分析工具之一。 - EPMA快速啟動(dòng)，點(diǎn)擊任何一點(diǎn)，就能開始預(yù)設(shè)的EDS定性、定量分析或WDS分析。 - 用戶菜單（User recipes），能保存或調(diào)用經(jīng)常使用的各種不同類型的樣品分析條件，菜單中包括了全部的電子光學(xué)參數(shù)、EDS和WDS參數(shù)在內(nèi)。 - EDS 的性能，數(shù)字化脈沖處理器，全譜面分布(WD/ED, 樣品臺(tái)和電子束掃描)，無(wú)風(fēng)扇SDD (選配)
日本電子 JXA-8530F 電子探針顯微鏡分析儀PC平臺(tái)操作
快速啟動(dòng)
用戶菜單
“Point ﹠Click”分析功能
實(shí)時(shí)顯示重疊的X-射線圖像(WDS)
EDS 譜圖成像
新開發(fā)的、用于極輕元素分析的分光晶體
用FE電子槍進(jìn)行高空間分辨率成像
常規(guī)的EPMA的熱發(fā)射電子槍使用鎢或六硼化鑭燈絲，而場(chǎng)發(fā)射電子槍提供的探針直徑只有傳統(tǒng)的1/2～1/10。
FE電子槍即使在低加速電壓下使用大探針電流，也能夠提供小束斑，因此可以進(jìn)行高空間分辨率的WDS分析。
“Click Point Analysis”功能和用戶菜單（User,s recipe）
Click Point Analysis功能允許用戶只需簡(jiǎn)單地在二次電子像或背散射電子像上點(diǎn)擊任意一點(diǎn)，就能獲得WDS譜圖和半定量分析結(jié)果。用戶菜單（User,s recipe）能為訪問(wèn)預(yù)設(shè)的分析條件提供方便，這些功能旨在通過(guò)這些zui簡(jiǎn)便的操作，zui大限度地提高FE-EPMA的效進(jìn)的操作
用戶可以根據(jù)他們的研究目標(biāo)設(shè)計(jì)詳細(xì)的分析程序，如復(fù)雜的納米區(qū)域的元素定量分析。系統(tǒng)中集成了完整的應(yīng)用程序和易于使用的軟件包，提供了廣泛的數(shù)據(jù)分析方法和工具，例如，電子束追蹤功能可使極微小區(qū)域上長(zhǎng)時(shí)間的面分析、點(diǎn)分析更容易執(zhí)行，而無(wú)需擔(dān)心電子束漂移。
WD/ED組合系統(tǒng)
擁有使用方便的WD/ ED組合系統(tǒng)，納入了JEO*進(jìn)的WDS和EDS探測(cè)器，組合使用擅長(zhǎng)微量元素分析的WDS和廣受贊譽(yù)的EDS系統(tǒng)，JXA-8530F成為高效采集定量分析數(shù)據(jù)、高倍率電子束掃描面分布及大面積樣品臺(tái)掃描面分布的強(qiáng)有力工具之一。