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JXA-8230 電子探針顯微分析儀 詳細(xì)摘要： 日本JEOL JXA-8230 電子探針顯微分析儀，可以安裝通用性強(qiáng)、使用方便的能譜儀X射線探測器，組合使用WDS和EDS，能提供無縫、舒適的分析環(huán)境。
產(chǎn)品型號： 所在地： 更新時(shí)間：2021-07-16 參考價(jià)： 面議 在線留言 -
軟X射線分析譜儀 詳細(xì)摘要： 日本JEOL 軟X射線分析譜儀，(SXES :Soft X-Ray Emission Spectrometer)通過組合新開發(fā)的衍射光柵和高靈敏度Ｘ射線CCD相...
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IB-19520CCP截面樣品拋光儀 詳細(xì)摘要： IB-19520CCP 截面樣品拋光儀，在加工過程中利用液氮冷卻，能減輕離子束對樣品造成的熱損傷。冷卻持續(xù)時(shí)間長、液氮消耗少的構(gòu)造設(shè)計(jì)。在裝有液氮的情況下，也能...
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IB-19530CP截面樣品拋光儀 詳細(xì)摘要： 日本JEOLIB-19530CP截面樣品拋光儀，采用多用途樣品臺，通過交換各種功能性樣品座實(shí)現(xiàn)了功能的多樣化。根據(jù)需要可以選擇不同的功能性樣品座，不僅能截面刻蝕...
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EM-09100IS 離子切片儀 詳細(xì)摘要： 日本JEOLEM-09100IS 離子切片儀，用于TEM 、STEM 、 SEM 、 EPMA 和 AUGER樣品制備的創(chuàng)新方法 離子切片儀制備薄膜樣品比傳統(tǒng)制...
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IB-09060CIS 低溫冷凍離子切片儀 詳細(xì)摘要： IB-09060CIS 低溫冷凍離子切片儀，易受熱損傷的樣品，也能方便地制作出薄膜樣品和截面樣品。冷卻保持時(shí)間長，有效地抑制了熱損傷。
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JSM-7200F 熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡 詳細(xì)摘要： JSM-7200F 熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡，應(yīng)用了日本電子旗艦機(jī)-JSM-7800F Prime采用的浸沒式肖特基電子槍技術(shù)，標(biāo)配了TTLS系統(tǒng)（Through...
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JSM-IT500 掃描電子顯微鏡 詳細(xì)摘要： 日本JEOL JSM-IT500 掃描電子顯微鏡，是JEOL InTouchScope系列的新機(jī)型。 從設(shè)定視野到生成報(bào)告，用于分析的軟件整合于一體，加快了作業(yè)...
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JED-2300/2300F 能譜儀 詳細(xì)摘要： JED-2300/2300F 能譜儀，是以圖像觀察和分析 為基本理念的TEM/EDS集成系統(tǒng)。通過與SEM的馬達(dá)驅(qū)動(dòng)樣品臺聯(lián)動(dòng)使用，可以進(jìn)行大范圍的觀察和分析。...
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Serial Block-face SEM 3View 發(fā)射掃描電子顯微鏡 詳細(xì)摘要： Serial Block-face SEM 3View 發(fā)射掃描電子顯微鏡，肖特基場發(fā)射掃描電子顯微鏡能長時(shí)間穩(wěn)定地提供高電流下的微細(xì)探針，與3View2XP（...
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JSM-7900F 熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡 詳細(xì)摘要： JSM-7900F 熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡，它繼承了上一代廣獲好評的性能如*的空間分辨率、高穩(wěn)定性、多種功能等的同時(shí)，操作性能極大簡單化。該設(shè)備不依賴操作者的技...
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JSM-IT500HR 掃描電子顯微鏡 詳細(xì)摘要： 日本JEOL JSM-IT500HR 掃描電子顯微鏡，采用了新開發(fā)的高亮度電子槍和透鏡系統(tǒng)，因而能獲得令人驚嘆的高畫質(zhì)圖像。即使對實(shí)時(shí)圖像，也能輕松地在CCD圖...
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JSM-7610FPlus 熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡 詳細(xì)摘要： JSM-7610FPlus 熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡，實(shí)現(xiàn)了分辨率15kV 0.8nm、1kV 1.0nm的進(jìn)一步提升，采用半浸沒式物鏡和High Power O...
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JSM-IT200 InTouchScope 掃描電子顯微鏡 詳細(xì)摘要： JSM-IT200 InTouchScope 掃描電子顯微鏡，是一款更簡潔、更易于使用且性價(jià)比高的掃描電子顯微鏡。
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JCM-7000 NeoScope™ 臺式掃描電子顯微鏡 詳細(xì)摘要： JCM-7000 NeoScope 臺式掃描電子顯微鏡，是以誰都可以操作的SEM/EDS為理念的臺式掃描電子顯微鏡， 標(biāo)配Zeromag、Live analys...
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JEM-ARM300F GRAND ARM 透射電子顯微鏡 詳細(xì)摘要： 日本JEOL JEM-ARM300F GRAND ARM 透射電子顯微鏡，實(shí)現(xiàn)了高掃描透射像(STEM-HAADF)分辨率，配備了JEOL自主研發(fā)的球差校正器，...
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JEM-F200 場發(fā)射透射電子顯微鏡 詳細(xì)摘要： JEM-F200 場發(fā)射透射電子顯微鏡，以節(jié)能環(huán)保、減排低碳為理念開發(fā)的JEM-F200場發(fā)射透射電子顯微鏡，不僅提高了空間分辨率和分析性能，還采用了新的操作系...
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JEM-2100Plus 透射電子顯微鏡 詳細(xì)摘要： 日本電子JEM-2100Plus 透射電子顯微鏡，不僅擁有信譽(yù)的JEM-2100 的電子光學(xué)系統(tǒng)，還增加了的控制系統(tǒng)，大幅提高了可操作性。 多功能電子顯微鏡JE...
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JEM-3200FS場發(fā)射電子顯微鏡 詳細(xì)摘要： JEM-3200FS場發(fā)射電子顯微鏡配備了加速電壓為300kV的場發(fā)射電子槍（FEG）和鏡筒內(nèi)置式型能量過濾器，能為廣泛的研究領(lǐng)域提供各種全新的解決方案。
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EM-05500TGP TEM斷層掃描系統(tǒng) 詳細(xì)摘要： 日本電子JEOL EM-05500TGP TEM斷層掃描系統(tǒng)，采用*算法的軟件，實(shí)現(xiàn)了從獲取連續(xù)傾斜圖像到三維重構(gòu)整個(gè)過程的自動(dòng)化。
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