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Deben雙絲桿原位力學(xué)拉伸臺2kN & 5kN 詳細摘要： 雙絲桿工作臺的設(shè)計允許透射和反射照明兩種，可安裝在光學(xué)顯微鏡、X射線衍射系統(tǒng)或同步加速器上。
產(chǎn)品型號：MT2kN DLS & MT5kN DLS 所在地： 更新時間：2021-07-11 參考價： 面議 在線留言 -
Deben單絲桿拉伸壓縮及水平彎曲臺2kN & 5kN 詳細摘要： 2kN和5kN拉伸臺測試模塊為特殊設(shè)計，可以用SEM、光學(xué)顯微鏡、AFM或XRD系統(tǒng)實時觀察樣品的高應(yīng)力區(qū)域。Windows 7.0/10軟件設(shè)置驅(qū)動器參數(shù)，并...
產(chǎn)品型號： 所在地： 更新時間：2021-07-11 參考價： 面議 在線留言 -
CT160冷熱臺 詳細摘要： 用于μXCT斷層成像系統(tǒng)的DEBEN帕爾貼冷熱臺允許在冷凍條件下對樣品進行成像，雙層聚苯乙烯（可選碳）窗可防止結(jié)冰，并可將樣品快速冷卻至-20°C
產(chǎn)品型號： 所在地： 更新時間：2021-07-11 參考價： 面議 在線留言 -
2kN拉伸臺，用于SEM EBSD，可選加熱裝置 詳細摘要： Deben最近開發(fā)了一種新的2KN拉伸臺，可選擇加熱至600°C的加熱裝置，專門用于裝有EBSD探測器的掃描電鏡內(nèi)。該臺有雙樣品夾具，允許樣品在0°和70°下觀...
產(chǎn)品型號：MTEST 2kN 所在地： 更新時間：2021-07-11 參考價： 面議 在線留言 -
20kN原位拉伸、壓縮及扭轉(zhuǎn)臺（用于同步加速器和X-ray CT） 詳細摘要： CT20K，全開放式框架，拉伸、壓縮和扭轉(zhuǎn)試驗臺，專為同步加速器和基于房間的X射線CT成像系統(tǒng)設(shè)計
產(chǎn)品型號：CT20K 所在地： 更新時間：2021-07-11 參考價： 面議 在線留言 -
CT500 500N原位拉伸臺(μXCT應(yīng)用) 詳細摘要： CT500原位測試臺用途廣泛，適應(yīng)性強，重量小于1.0kg，適用于安裝在見的中程μXCT系統(tǒng)（如Nikon XTH-225、蔡司/Xradia Versa和GE...
產(chǎn)品型號：CT500 所在地： 更新時間：2021-07-11 參考價： 面議 在線留言 -
CT5000 5KN原位拉伸臺(μXCT應(yīng)用) 詳細摘要： CT5000原位測試臺用途廣泛，適應(yīng)性強，重量小于6.0kg，適用于安裝在見的中程μXCT系統(tǒng)，如Nikon XTH-225、蔡司/Xradia Versa和G...
產(chǎn)品型號：CT5000 所在地： 更新時間：2021-07-11 參考價： 面議 在線留言 -
美國PIE EM-KLEEN遠程等離子清潔儀 詳細摘要： 用于SEM,FIB,TEM,XPS,ALD,CD-SEM,EBR,EBI,EUVL和其它高真空系統(tǒng)的遠程等離子清潔儀。遠程等離子源需安裝在要被清潔的真空腔室上，...
產(chǎn)品型號：EM-KLEEN/SEMI-KLEEN quartz/SEMI-KLEEN sapphire 所在地： 更新時間：2021-07-11 參考價： 面議 在線留言 -
200N原位拉伸臺壓縮水平彎曲臺 詳細摘要： 200N原位拉伸臺MICROTEST200N模塊經(jīng)過特別設(shè)計，可以通過掃描電鏡、光學(xué)顯微鏡、原子力顯微鏡或XRD系統(tǒng)實時觀察樣品的高應(yīng)力區(qū)。
產(chǎn)品型號：MTEST 200N 所在地： 更新時間：2021-07-11 參考價： 面議 在線留言 -
K1050X射頻等離子清潔刻蝕灰化儀 詳細摘要： K1050X射頻等離子清潔刻蝕灰化儀
產(chǎn)品型號：K1050X 所在地： 更新時間：2021-07-11 參考價： 面議 在線留言 -
GloQube Plus TEM載網(wǎng)輝光放電處理儀 詳細摘要： GloQube Plus TEM載網(wǎng)輝光放電處理儀
產(chǎn)品型號：GloQube Plus 所在地： 更新時間：2021-07-11 參考價： 面議 在線留言 -
PP3004冷凍傳輸制備系統(tǒng) 詳細摘要： PP3004冷凍傳輸制備系統(tǒng)
產(chǎn)品型號：PP3004 所在地： 更新時間：2021-07-11 參考價： 面議 在線留言