CT500 500N原位拉伸臺(μXCT應用)

與µXCT 系統(tǒng)主要制造商聯合，包括蔡司、RX Solutions、Tescan/XRE、Nikon、Thermo Fisher Scientific和Waygate/GE，我們現在能夠為您的μXCT應用提供集成的拉伸測試解決方案。使用帶有μXCT的拉伸試驗，可以清晰直觀地解釋材料和復合材料在不同加載條件下的性能變化。這些測試臺的緊湊設計使其能夠與最小的高分辨率微型CT系統(tǒng)一起使用，提供一系列拉伸和壓縮臺，力高達20kN，分辨率低至25mN。系統(tǒng)由綜合微測試拉伸級控制軟件控制，提供廣泛的控制功能和負載與擴展的實時顯示，并為特定的μXCT系統(tǒng)提供所有必需的布線和安裝適配器。更多細節(jié)和價格可從您的micro-CT供應商或直接從覃思獲得。

CT500原位測試臺用途廣泛，適應性強，重量小于1.0kg，適用于安裝在見的中程μXCT系統(tǒng)（如Nikon XTH-225、蔡司/Xradia Versa和GE v|tome|x）以及所謂的“納米”系統(tǒng)（如蔡司/Xradia XCT-200和GE Nanoom S）中。

CT500 可選項:

• 3點和4點彎曲夾具
• 用于大樣品或小樣品的定制夾具和樣品國定座

相關產品鏈接

CTN原位拉伸臺

20kN原位拉伸、壓縮及扭轉臺（用于同步加速器和X-ray CT）

CT160冷熱臺（用于µXCT，溫度范圍：-20°C to +160°C）