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詳細(xì)摘要： Tergeo系列臺式全自動等離子清潔儀具有清潔、灰化、刻蝕等功能，可用來清潔納米級樣品，去除光刻膠，清潔晶圓和集成電路鍵合焊盤，進(jìn)行煤和有機(jī)物的灰化，激活聚合物...

詳細(xì)摘要： MICROTEST三點(diǎn)彎曲和拉伸/壓縮模塊專門設(shè)計用于在掃描電鏡或光學(xué)顯微鏡下觀察樣品的高應(yīng)力區(qū)。

詳細(xì)摘要： 雙絲桿工作臺的設(shè)計允許透射和反射照明兩種，可安裝在光學(xué)顯微鏡、X射線衍射系統(tǒng)或同步加速器上。

詳細(xì)摘要： 2kN和5kN拉伸臺測試模塊為特殊設(shè)計，可以用SEM、光學(xué)顯微鏡、AFM或XRD系統(tǒng)實(shí)時觀察樣品的高應(yīng)力區(qū)域。Windows 7.0/10軟件設(shè)置驅(qū)動器參數(shù)，并...

詳細(xì)摘要： 用于μXCT斷層成像系統(tǒng)的DEBEN帕爾貼冷熱臺允許在冷凍條件下對樣品進(jìn)行成像，雙層聚苯乙烯（可選碳）窗可防止結(jié)冰，并可將樣品快速冷卻至-20°C

詳細(xì)摘要： Deben最近開發(fā)了一種新的2KN拉伸臺，可選擇加熱至600°C的加熱裝置，專門用于裝有EBSD探測器的掃描電鏡內(nèi)。該臺有雙樣品夾具，允許樣品在0°和70°下觀...

詳細(xì)摘要： CT20K，全開放式框架，拉伸、壓縮和扭轉(zhuǎn)試驗臺，專為同步加速器和基于房間的X射線CT成像系統(tǒng)設(shè)計

詳細(xì)摘要： CT500原位測試臺用途廣泛，適應(yīng)性強(qiáng)，重量小于1.0kg，適用于安裝在見的中程μXCT系統(tǒng)（如Nikon XTH-225、蔡司/Xradia Versa和GE...

詳細(xì)摘要： CT5000原位測試臺用途廣泛，適應(yīng)性強(qiáng)，重量小于6.0kg，適用于安裝在見的中程μXCT系統(tǒng)，如Nikon XTH-225、蔡司/Xradia Versa和G...

詳細(xì)摘要： 用于SEM,FIB,TEM,XPS,ALD,CD-SEM,EBR,EBI,EUVL和其它高真空系統(tǒng)的遠(yuǎn)程等離子清潔儀。遠(yuǎn)程等離子源需安裝在要被清潔的真空腔室上，...

詳細(xì)摘要： 200N原位拉伸臺MICROTEST200N模塊經(jīng)過特別設(shè)計，可以通過掃描電鏡、光學(xué)顯微鏡、原子力顯微鏡或XRD系統(tǒng)實(shí)時觀察樣品的高應(yīng)力區(qū)。

詳細(xì)摘要： K1050X射頻等離子清潔刻蝕灰化儀

詳細(xì)摘要： GloQube Plus TEM載網(wǎng)輝光放電處理儀

詳細(xì)摘要： PP3004冷凍傳輸制備系統(tǒng)