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半導(dǎo)體反射膜厚儀 HSR-Mapping 詳細摘要： 本設(shè)備利用反射干涉的原理進行無損測量，通過分析薄膜表面反射光和薄膜與基底界面反射光相干涉形成的反射譜，同時搭配 R-Theta 位移臺，兼容 6 到 12 寸樣...
產(chǎn)品型號： 所在地： 更新時間：2025-04-30 參考價： 面議 在線留言 -
半導(dǎo)體反射膜厚儀 HSR-C 詳細摘要： 本設(shè)備利用反射干涉的原理進行無損測量，測量吸收或者透明襯底上薄膜的厚度以及折射率，同時提供樣品反射率，測量精度達到埃級的分辨率，測量迅速，操作簡單，界面友好，測...
產(chǎn)品型號： 所在地： 更新時間：2025-04-30 參考價： 面議 在線留言 -
半導(dǎo)體顯微膜厚儀 HSR-M 詳細摘要： 本設(shè)備利用反射干涉的原理進行無損測量，測量吸收或者透明襯底上薄膜的厚度以及折射率，同時提供樣品反射率，測量精度達到埃級的分辨率，測量迅速，操作簡單，界面友好，搭...
產(chǎn)品型號： 所在地： 更新時間：2025-04-30 參考價： 面議 在線留言