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簡單介紹：便攜式Ｘ射線衍射儀ＸＲＤ（Ｘ?。颍幔。模椋妫妫颍幔悖簦椋铮睿┦蔷w物質(zhì)結(jié)構(gòu)分析的基本和*手段，自然界中的晶體物質(zhì)都具有自己特定的且*的結(jié)構(gòu)，我們俗稱晶體的指紋譜；ＸＲＤ使用Ｘ射線照射晶體物質(zhì)，在滿足布拉格定律的情況下，射線和特定的晶體結(jié)構(gòu)會產(chǎn)生特定的明暗相間的環(huán)－德拜環(huán)，通過探測器接收德拜環(huán)則可以表征出晶體物質(zhì)的結(jié)構(gòu)信息，從而進行晶體物質(zhì)的物相、結(jié)構(gòu)、結(jié)晶度、晶粒度等方面的分析。

簡單介紹：三維原子探針顯微術(shù)（3DAP），也稱為原子探針斷層分析術(shù)（APT），是一種具有原子級空間分辨率的測量和分析方法，它可以對不同元素的原子逐個進行分析，并給出納米空間中不同元素原子的三維分布圖形，分辨率接近原子尺度，是目前Z微觀、且分析精度較高的一種定量分析手段。

簡單介紹：ＲＡＭＡＮ是使用拉曼效應進行物質(zhì)分析的。光照射到物質(zhì)上發(fā)生彈性散射和非彈性散射. 彈性散射的散射光是與激發(fā)光波長相同的成分，此為瑞利效應；非彈性散射的散射光有比激發(fā)光波長長的和短的成分, 統(tǒng)稱為拉曼效應。 拉曼譜線的數(shù)目，位移的大小，譜線的長度直接與試樣分子振動或轉(zhuǎn)動能級有關。因此，對拉曼光譜的研究，也可以得到有關分子振動或轉(zhuǎn)動的信息。目前拉曼光譜分析技術(shù)已廣泛應用于物質(zhì)的鑒定、分子結(jié)構(gòu)的研究等

簡單介紹：激光誘導擊穿光譜分析儀ＬＩＢＳ（Laser-Induced Breakdown Spectroscopy）是元素分析的前沿技術(shù)，通過使用高能量的聚焦脈沖激光束照射物質(zhì)表面，使得照射點的材料被燒蝕剝離并形成納米粒子云團，……

簡單介紹：?針對地質(zhì)領域和環(huán)境科學分析專門而設計、注重原位分析
?具有超高的靈敏度
?U-Pb地質(zhì)學定年、穩(wěn)定同位素分析、痕量元素以及放射性顆粒分析的Z高水平分析儀器

簡單介紹：1、眾多獨立分析實驗室的主力軍
2、通用磁扇區(qū)二次離子質(zhì)譜儀：比飛行時間（TOF）SIMS要快，比四級桿
SIMS質(zhì)量分辨率要高
3、高靈敏度痕量元素分析：ppm-ppb級
4、痕量元素深度剖析：亞微米級橫向分辨率，納米級深度分辨率
5、高靈敏度痕量元素二次離子顯微圖像（2＆3D）
6、高分析速度高精度的穩(wěn)定同位素豐度比
7、可增配防輻射裝置，用于放射性樣品分析
8、用于半導體、

簡單介紹：透射電子顯微鏡（ＴＥＭ）和掃描電子顯微鏡（ＳＥＭ）。與光學顯微鏡相比電子顯微鏡用電子束代替了可見光，用電磁透鏡代替了光學透鏡并使用熒光屏將肉眼不可見電子束成像。

簡單介紹：1、專門針對同位素以及痕量元素的高空間分辨率的二次離子探針
2、具有*的橫向分辨率，痕量元素和同位素高靈敏度
- 高空間分辨率 （Z小到50 nm）
- 高靈敏度 （元素分布圖像ppm）
- 高質(zhì)量分辨率（M/dM）
- 快速數(shù)據(jù)接收（DC mode, 非脈沖模式）
- 可分析絕緣樣品
- 同位素分析精度可達千分之零點幾
3、可同時探測5-7種離子
4、探測器可選電子倍增器（成分圖像），也可選法

簡單介紹：ＸＲＦ－ＸＲＤ聯(lián)用儀是元素分析和結(jié)構(gòu)分析的技術(shù)融合。
ＸＲＦ是進行元素快速檢測分析的有效手段，通過Ｘ射線轟擊原子層外的電子使得電子在不同電子層躍遷，電子躍遷時會釋放特定的能量－熒光射線，通過捕捉熒光射線的能量即可實現(xiàn)元素的定性識別及含量分析。
ＸＲＤ是進行晶體物質(zhì)結(jié)構(gòu)分析的基礎手段，可以得到晶體物質(zhì)的結(jié)構(gòu)信息及成分信息。ＸＲＦ－ＸＲＤ聯(lián)用儀則將兩種手段結(jié)合起來，可以實現(xiàn)晶體物質(zhì)的元素定性定量、

簡單介紹：透射電子顯微鏡（ＴＥＭ）和掃描電子顯微鏡（ＳＥＭ）。與光學顯微鏡相比電子顯微鏡用電子束代替了可見光，用電磁透鏡代替了光學透鏡并使用熒光屏將肉眼不可見電子束成像。

簡單介紹：X射線衍射殘余應力分析儀是通過XRD測量晶體材料衍射角變化（Δθ）從而得到晶格間距變化Δd，根據(jù)胡克定律和彈性力學原理，計算出材料的殘余應力。在現(xiàn)代制造業(yè)中，無損的X射線衍射法是Z成熟、*的分析方法。殘余應力是消除外力或不均勻的溫度場等作用后仍留在材料內(nèi)的自相平衡的內(nèi)應力。機械加工和強化工藝都能引起殘余應力。

簡單介紹：多功能電子顯微鏡將常見的ＴＥＭ、ＳＥＭ、ＳＴＥＭ、ＥＤ四種模式結(jié)合在一起，用戶可根據(jù)樣品分析需要進行隨意切換。
利用電子與物質(zhì)作用所產(chǎn)生之訊號來監(jiān)定微區(qū)域晶體結(jié)構(gòu)，微細組織，化學成份，化學鍵結(jié)和電子分布情況的電子光學裝置。常用的有透射電子顯微鏡（ＴＥＭ）和掃描電子顯微鏡（ＳＥＭ）。與光學顯微鏡相比電子顯微鏡用電子束代替了可見光，用電磁透鏡代替了光學透鏡并使用熒光屏將肉眼不可見電子束成像。

簡單介紹：缺陷分析－超聲波掃描顯微鏡（ＳＡＭ）學名是：掃描聲學顯微鏡Scanning Acoustic Microscope，簡稱SAM。它是基于聲波脈沖反射和透射原理工作的，只要聲波信號在樣品表面或者內(nèi)部遇到聲波阻抗（如遇到孔隙、氣泡等），就會發(fā)生反射。
SAM主要用于材料淺表層結(jié)構(gòu)分析、材料力學性能的檢測、無損檢測等。